电子显微镜分析仪

Quantax扁平

Maximum Efficiency in X-ray Detection

无与伦比的吞吐量

分析敏感样品

xflash_flatquad_drop_shadow_4+5_cut_out

邮件

1
nm
空间分辨率
SEM中的纳米量表分辨率
> 1.1
Sr
最高的实体角度
实体角度表示生成的X射线的几何收集效率
2,400
KCPS
吞吐量
4 times faster than conventional EDS detectors

Quantax Flatquad-常规SDD达到限制的地方

Quontax Flatquad是基于革命性的EDS微分析系统Xflash®扁平。该环形四通道硅漂移检测器插入SEM Pole片和样品之间,在ED中获得最大的实体角度。结合EspritAnalytical软件套件,Quontax Flatquad提供无与伦比的映射性能,即使是最困难的样品。

  • Extremely fast mapping using only moderate beam currents
  • 分析极低光束电流(<10 pa)处的梁敏感材料,例如必威手机客户端生物或半导体样品
  • 研究具有地形的样品,避免阴影效果
  • 在低KV和最高放大倍率下的纳米颗粒和纳米结构的分析
  • 测量薄样品(例如Tem Lamellae)和SEM中X射线率低的其他样品。

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最大化您的效率

布鲁克的独特环形设计Xflash®扁平检测器及其在SEM杆片和样品之间的位置导致无与伦比的实体角,直接转化为更快的测量。与Esprit软件套件,Quontax flatquad提供了分析的理想仪器,例如在最低梁电流或具有高地形的样品处的敏感样品。

Xflash®扁平还可以将SEM或FIB变成低压分析茎,以最高空间和光谱分辨率以更及时,更具成本效益的方式分析电子透明样品。

要从电子透明样品中获取更多信息,请组合Xflash®带有EFLASH EBSD检测器的fltquad flofof擎天柱头。