硅半导体的x射线计量
布鲁克提供世界上最先进的薄膜计量无损x射线技术解决方案。我们的表征解决方案涵盖了逻辑和记忆处理的全部范围。我们提供用于识别衬底缺陷和执行外延膜和高k电介质前端线控制的专门系统，以及用于分析金属薄膜和晶圆级封装凸点的专用仪器。这些系统还可以用于硬盘驱动器材料、硅氮化镓功率晶体管、PZT薄膜组成和相位监测等其他半导体计量应用。必威手机客户端
支持
我们如何提供帮助?
布鲁克与我们的客户合作解决实际应用问题。我们开发下一代技术，帮助客户选择正确的系统和配件。这种合作关系在工具出售后很长一段时间内通过培训和延伸服务持续下去。betway手机客户端下载
我们训练有素的支持工程师，应用科学家和主题专家团队完全致力于最大化您的生产力与系统服务和升级，以及应用支持和培训。betway手机客户端下载