高温下的原位元素绘图

电子显微镜是研究高空间分辨率材料的手段。能量色散X射线光谱学(必威手机客户端EDS)在电子显微镜中，可以在纳米尺度上绘制元素分布图。最后，使用加热支架或任何其他适用于电子显微镜和EDS的原位反应池，可以监控电子显微镜中材料原位处理或操作的效果。这意味着，有关结构和元素组成变化的信息可以以高空间分辨率定性和定量地获得。必威手机客户端

使用Wildfire、DENS solutions的基于MEMS的加热支架和Bruker在不同的高温下对Pt-Pd试样进行了研究QUANTAX EDS带有XFlash的系统^®标准扫描透射电子显微镜（STEM）上的6T 30探测器。探测器直径为30毫米^2.在所用阀杆中，在22°的起飞角下，活动区域的收集角达到0.09 sr。试样架采用新的特殊设计，以提高z方向的热稳定性，允许在室温和1000°C之间轻松监控相同的试样区域。EDS系统在每个温度步提供了几分钟元素图的适当映射时间。
图1显示了Pt-Pd纳米颗粒随温度升高的发展过程。
图2展示了如何使用基于PCA的相分析和面积覆盖率定量监测粒子数大小和成分的发展。