高温下的原位元素映射

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电子显微镜是研究高空间分辨率材料的手段。必威手机客户端能量色散x射线光谱学(EDS)可以在纳米尺度上绘制元素的分布。最后,加热支架的使用,或任何其他原位反应细胞,适用于电子显微镜和EDS,允许监测材料处理的原位或在电子显微镜中操作的影响。必威手机客户端这意味着结构和元素组成变化的信息可以在高空间分辨率下定性和定量地获得。

从800°C加热到1000°C,用于监测颗粒结构和成分变化的EDS元素图

使用Wildfire、MEMS加热支架和Bruker对Pt-Pd测试样品进行了不同温度下的研究QUANTAX EDS一个XFlash系统®6t30探测器在标准扫描透射电子显微镜(STEM)上。探测器为30毫米2在使用的STEM中,在起飞角为22°的情况下,有效区域的采集角为0.09 sr。试样支架是一种新型的特殊设计,提高了z方向的热稳定性,允许在室温和1000℃之间轻松监测相同的试样区域。在每个温度步骤中,EDS系统提供了合适的几分钟元素图的测图时间。
图1显示了随着温度的升高,Pt-Pd纳米粒子的发展。
图2展示了如何使用基于PCA的阶段分析和区域覆盖定量监测颗粒数、大小和组成的发展。

不同温度下的EDS元素分布图和3个指定阶段的区域覆盖发展:衬底、Pd和Au