在本次网络研讨会上,我们展示了现场加热实验的测量设置和结果EDS探测器布鲁克纳米分析公司。
新型纳米芯片用于在(S)TEM中进行现场加热研究,优化后进一步提高面内稳定性,限制膨胀效应,使极高分辨率成像更加容易。此外,加热器的设计允许实现更好的温度均匀性,并最大限度地减少功耗,因此,最大限度地减少发射的红外辐射。由于红外辐射干扰了x射线信号的检测,对于EDS的采集来说,后者尤其重要。
在高达1000°C的温度下,在Au/Pd纳米颗粒上获得了能量色散x射线谱图。本文将详细讨论红外辐射对x射线光谱的影响。我们将展示由Bruker’s揭示的元素分布图,以显示原位蒸发和相变等现象精灵软件.
本次网络研讨会将首先介绍DENSsolutions公司新开发的纳米晶片加热TEM样品架,并继续讨论Bruker公司在高达1000°C的高温下进行EDS数据采集的加热实验的挑战和结果。
本次网络研讨会将以15分钟的问答环节结束,届时我们的专家将回答您的问题。
博士Meiken Falke
布鲁克纳米分析公司TEM-EDS全球产品经理
Igor Nemeth博士
应用科学家EDS,布鲁克纳米分析
Porcu毛罗。
营销经理DENSsolutions