高温下的原位EDS元素映射

在本次网络研讨会中，我们介绍了使用DENSsolutions公司的商用加热TEM样品架和EDS检测器布鲁克纳米分析公司。

新的纳米芯片被开发用于在（S）TEM内进行原位加热研究，经过优化以进一步提高平面内稳定性并限制膨胀效应，使极高分辨率成像更加容易。此外，加热器的设计允许实现更好的温度均匀性，并将功耗降至最低，从而将发射的红外辐射降至最低。后者对于EDS采集特别重要，因为红外辐射干扰了X射线信号的检测。

在高达1000°C的温度下获得了Au/Pd纳米颗粒的能量色散X射线光谱和图谱。将详细讨论红外辐射对X射线光谱的影响。我们将展示元素分布图，显示由Bruker's揭示的原位蒸发和相变等现象ESPRIT软件.

网络研讨会将首先介绍DENSsolutions公司最新开发的纳米芯片加热TEM样品架，然后继续讨论Bruker在高达1000°C的高温下进行EDS数据采集加热实验的挑战和结果。

网络研讨会将以15分钟的问答环节结束，我们的专家将回答您的问题。

• 科学家、工程师、学生在TEM/STEM/T-SEM上使用EDS
• 材料和生命科学研究人员对纳米尺必威手机客户端度的原位加热实验感兴趣