位于升高温度下的原位元素映射

在本网络研讨会中，我们介绍了与eNssolutions的市售加热TEM样品持有人组合的测量设置和原位加热实验的结果EDS检测器Bruker Nano Analytics的作品。

开发了新的纳米芯片来进行（S）TEM内部的原位加热研究，以进一步提高面内稳定性并限制凸起效应，从而使极高的高分辨率成像变得更加容易。此外，加热器的设计允许实现更好的温度同质性，并最大程度地减少功耗，从而最大程度地减少发射的红外辐射。由于IR辐射干扰了X射线信号的检测，因此后者对EDS的采集特别感兴趣。

在高达1000°C的温度下，在AU/PD纳米颗粒上获取了能量分散X射线光谱和地图。IR辐射对X射​​线光谱的影响将进行详细讨论。我们将提出元素分布图，显示现象，例如原位蒸发和相变，由布鲁克的揭示ESPRIT软件。

网络研讨会将从爆炸液中引入新开发的纳米芯片加热TEM样品持有器，并继续讨论Bruker高达1000°C的EDS数据采集的加热实验的挑战和结果。

网络研讨会将通过15分钟的问答环节进行圆满，我们的专家将回答您的问题。

• 科学家，工程师，使用TEM/STEM/T-SEM上的EDS的学生
• 材料和生命科学研究人员对纳米级必威手机客户端的原位加热实验感兴趣