QUANTAX ED-XS
Wissenschaft leicht gemacht
Zuverlässiges und günstiges EBSD
Auch für REM-Tischgeräte erhältlich
Highlights
Volle
Analytische Leistung
Deckt mehr als 95% der möglichen Anwendungsfälle ab
Die eFlash XS und XFlash 630M Detektoren sind vollständig in die ESPRIT Software integriert.
Niedrige
Einstiegskosten
EBSD mit geringem Platzbedarf am kostengünstigen REM
Der eFlash XS EBSD Detektor kann mit geringem Platzbedarf an preisgünstigen REMs installiert werden, ohne dass es unzumutbar teuer wird.
Niedrige
Betriebskosten
Geringe Ausfallwahrscheinlichkeit und Ausfallzeiten
Der eFlash XS wird mit einer hochzuverlässigen CMOS-Kamera betrieben. Im sehr unwahrscheinlichen Ausfall der Kamera wird der eFlash XS Detektor innerhalb weniger Tage durch ein vor Ort ersetzbares Gerät ausgetauscht.
Wissenschaft leicht gemacht
QUANTAX ED-XS ist ein neues System, welches den neuen und einzigartigeneFlash XSEBSD Detektor mit dem zuverlässigenXFlash®EDS-Detektor in der vielseitigenESPRITSoftware kombiniert. Diese Kombination aus Hardware- und Software ist ein neuer Ansatz zur Bereitstellung leistungsstarker Analysetools für eine größere Mikroskopie-Community, die bisher keine EBSD-Funktionen nutzen konnten. Vorteile sind:
- Niedrigere Anfangsinvestitionskosten
- Sehr geringe Ausfallzeiten: Vor-Ort-Detektorersatz innerhalb weniger Tage
- Günstige Servicevertragsoptionen
- Einfach zu bedienende EBSD: keine Kalibrierung erforderlich sowie durch den Nutzer austauschbarer Phosphorschirm
- Sicherer Betrieb: bei Nichtgebrauch besteht keine Gefahr einer versehentlichen Kollision mit dem Probentisch oder anderen Instrumenten in der REM-Kammer
Vorteile
Warum benötige ich EBSD an meinem REM-Tischgerät?
- Halbautomatische Korngrößen- und Formverteilungsanalyse
- Quantitative Analyse von Mikrostrukturen und Teilbereichen
- Bestimmung des Flächen- oder Volumenanteils von verformten oder rekristallisierten Körnern
- Korngrenzenanalyse
- Phasenidentifikation和Ph值asenverteilungsanalyse
- Korrelation chemischer und kristallographischer Ergebnisse
- Orientierungsverteilungsanalyse – kristallographische Texturanalyse
