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电子显微镜分析仪

QUANTAX ED-XS

简单性提供了价格合理的科学

可靠且价格合理的EBSD

也可在桌面SEM上找到

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满的
分析能力
覆盖超过95%的应用程序
eFlash XS和XFlash 630M探测器完全集成在ESPRIT软件套件中
低的
初始投资成本
用于低占地面积和低成本SEM的EBSD
eFlash XS EBSD探测器可以安装在占地面积小、价格合理的SEM上，而不会造成不合理的昂贵
低的
拥有成本
故障概率低，停机时间短
eFlash XS由高可靠性CMOS摄像头供电。在极不可能出现摄像头故障的情况下，e-Flash XS探测器将在几天内更换为现场装置。

简单性提供了价格合理的科学

QUANTAX ED-XS是一个结合了新产品和独特产品的新产品包eFlash XS具有鲁棒性的EBSD检测器XFlash®多功能下的EDS探测器精神软件套件。这种硬件和软件的结合是一种新的方法，可以为迄今尚未提供EBSD功能的更大的显微镜社区提供强大的分析工具。以下是它的好处：

  • 低得多的初始投资成本
  • 停机时间极低：几天内现场更换探测器
  • 可负担的服务合同选项betway手机客户端下载
  • 易于使用的EBSD：无需校准，用户可更换屏幕
  • 安全操作：不使用时，与SEM台或SEM室内的其他仪器发生意外碰撞的几率为0%
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Avantages

为什么我的桌面上需要EBSD或W-SEM？

  • 半自动粒度和形状分布
  • 用子集法定量分析微观结构
  • 变形晶粒与再结晶晶粒的面积/体积分数
  • 晶界分析
  • 相位识别与分布分析
  • 化学和晶体学结果的相关性
  • 取向分布-结晶织构分析

应用

你的分析挑战是什么？

相分布图，红色显示铁素体相，绿色显示奥氏体相；相位比分别为39%和61%；映射时间：18:01分钟，映射大小：548000像素，零解：5.7%。未应用数据清理！

不锈钢显微组织特征的表征

原金属和合金的机械性能通过各种热机械成形过程的顺序进行控制，例如在室温或高温下进行的轧制、锻造、挤压等。
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镍合金样品的晶体取向图，通过将左上角描述的色码与样品表面法线关联，显示每个晶粒的取向；采集速度：510帧/秒，零解：1.3%。未应用数据清理！

工业合金晶粒统计与各种性能的相关性必威东盟体育

EBSD技术最重要的优点之一是输出可靠的晶粒统计数据，例如平均直径大小和分布，这可以与分析材料的各种性能相关，例如硬度、强度、塑性/成形性等。
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图形质量图与相位图重叠，以红色显示硅晶粒；为了尽可能减少在未知类型和相位数的样品上设置EBSD测量所需的时间，可以在不识别所有相位的情况下启动采集；所有其他阶段都可以脱机识别，稍后再使用ESPRIT软件的极端重新索引功能完成地图

相位识别与分布分析

QUANTAX ED-XS是一个完全集成的EDS和EBSD系统，可单独使用EDS或EBSD或同时使用这两种技术实现多种分析类型。
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