contourx - 100
流线型和负担得起的台面粗糙度测量
强调
contourx - 100
ContourX-100光学轮廓仪以一流的价格为精确和可重复的非接触面测量设定了新的基准。这个占地面积小的系统在一个精简的包中提供了不受影响的2D/3D高分辨率测量能力，该包融合了数十年专有的Bruker白光干涉测量(WLI)创新技术。下一代的改进包括一个新的5百万像素相机和更新阶段，更大的缝合能力，和一个新的测量模式，USI，为更大的便利性和灵活性的精密加工表面，厚膜，和摩擦学应用。你不会找到比ContourX-100更有价值的台式系统。
行业最佳
Z分辨率
提供恒定，精确的测量，与放大倍差无关。
无与伦比的
计量值
提供流线型的设计，而不影响测量能力。
方便使用的
软件界面
提供直观访问广泛的预编程过滤器库和分析。
Eigenschaften
无与伦比的计量
WLI为所有目标提供恒定且最终的垂直分辨率。
ContourX-100轮廓仪是超过40年的专有光学创新和非接触面测量、表征和成像行业领先水平的顶峰。该系统利用3D WLI和2D成像技术在一次采集中进行多次分析。ContourX-100在所有地表情况下从0.05%到100%反射率都很强大。
无与伦比的价值和分析
Contourx-100手动舞台。
通过成千上万的定制分析和Bruker简单而强大的VisionXpress™ 和Vision64®用户界面，ContourX-100台式机针对实验室和工厂车间的生产效率进行了优化。硬件和软件相结合，提供了对顶级高通量光学性能的优化访问，完全超越了可比的计量技术。
