液晶屏与光电
失效分析
CMOS传感器缺陷的FT-IR分析
光电器件的分析是相当复杂的，因为现代系统高度小型化，由多种材料组成。尤其是对微观污染物的识别特别重要，因为它们可能导致电子设备故障。揭示污染的来源，从而进行有效的故障排除是该技术的关键应用之一必威手机客户端FT-IR显微镜。
它允许用户获得具有高横向分辨率的非常小结构的红外光谱，从而揭示样品特定部分的化学成分。这使得FT-IR成为电子传感器和其他光电器件质量控制和故障分析不可或缺的工具。它可以帮助描述缺陷、损坏、污染等特征。它甚至可以通过表征红外传感器来刺激产品开发。
质量控制
用拉曼显微镜研究液晶面板内的污染物
显示器、发光二极管、液晶显示器和更多的光电部件都是用聚合物保护层层压而成，或者简单地粘在玻璃表面上。在这两种情况下，意味着如果材料是透明的，必威手机客户端共焦拉曼显微镜有能力看在…内这种组装。
通常，微粒、纤维、灰尘和污垢等微小污染物是此类损坏的罪魁祸首。拉曼显微镜不仅可以发现这些微观杂质，还可以用化学方法识别它们，帮助发现这些产品缺陷的根本原因。将其用于以下部件的损坏分析：
- 屏幕和液晶显示器
- 触摸屏
- 安装的传感器
材料研究
利用FT-IR对传感器和检测器进行表征
如今，探测器无处不在——在智能手机、温度计、照相机、电灯开关和许多其他设备中。但在这些探测器能够在我们的日常生活中开始工作之前，必须对其进行彻底的表征和优化。
这正是在哪里红外光谱仪可广泛应用于检测探测器的三个基本参数：
- 响应的光谱带宽（UV / VI / IR /等）
- 响应所需的辐射功率
- 传感器响应时间
应用FT-IR在VCSELS开发中的人脸识别
垂直腔面发射激光器（VCSEL）是一种特殊类型的半导体激光二极管，与传统的边发射激光二极管不同，它垂直于芯片表面发射。这使得它们很容易封装成发射器阵列，在一个芯片上有数百个发射器，然后可以将其放置在智能手机中（例如用于人脸识别）。
在VCSEL的分析中，红外光谱与辐照度传感器和快速光电二极管相比，已被证明是一种优越的方法。许多优点之一是可以确定发射光谱。目前，研究的重点是表征VCSEL的方法，以支持基础研究中VCSEL的理论建模。你想了解更多吗？
用电气和光电性能与化学成分和微观结构相关联
光电器件主要依靠光刺激产生电脉冲，反之亦然。它们通常用作电子设备中的传感器或检测器。
基于SEM的EDS和EBSD技术是常用的分析工具，它们结合使用，以研究化学成分和微观结构与光学、电学和机械性能的相关性，并将其降低到纳米级。通过Bruker的高级解决方案，可以深入了解WDS、EDS、EBSD和TKD技术定量测量相位和方向分布。例如，它允许研究特定晶体取向，谷物或子粒边界对光电性质的影响。原位相关性研究也可以用Bruker进行全税EBSD和希思特龙PI系列皮卡齿机。
