用微x射线荧光光谱分析薄金属涂层的空间分辨层厚
金属镀层的显微x射线荧光分析
对于在生产过程中应用各种涂层的制造商来说，彻底了解涂层的厚度和沉积膜的组成是至关重要的。Bruker的空间解析分布分析能力M4龙卷风Micro-XRF光谱仪和XMethod涂层分析软件可以对点测量的涂层成分和层厚进行分析，并绘制涂层区域分布图。
本次网络研讨会将讨论如何在XMethod中创建层模型，以及如何使用M4 TORNADO实现这种分析方法的应用。重点将是不同基材和不同应用的金属涂层，如印刷电路板(PCB)上铜上的Au/Pd/Ni和玻璃上的金属涂层。将对校准标准的结果进行比较，以证明其精度和重现性。
本次网络研讨会将以15分钟的问答环节结束，我们的专家将回答您的问题。
谁应该参加?
- 质量控制专家，确保电子工业中薄金属涂层的厚度和成分
- 涂装质量控制技术人员负责pcb涂装服务的质量保证和失效分析betway手机客户端下载
- 研究人员在研发
Sn、Br、Au、Bi、Cu、Ni和Si在PCB(存储模块)上的元素分布
玻璃基板上al - cu合金的成分空间分布(左)和厚度分析(右)
