Bruker Nano Analytics介绍:

金属薄涂层的显微XRF扫描电镜分析

网络研讨会

薄金属涂层厚度分析

Micro XRF是一种常用的无损分析方法,用于测量不同类型样品的薄膜厚度,无需任何样品制备。此外,可以同时确定该层的组成。这类应用的例子有:PCB板、引线框架和芯片载体上的连接器引脚或焊点,太阳能电池上的涂层,甚至是用于不同材料防腐的涂层。该方法的非破坏性操作和X射线穿透样品并获取表面下材料信息的能力使该方法对单层和多层的厚度和成分分析具有吸引力。必威手机客户端

本网络研讨会将讨论XMethod软件模块中图层模型的开发以及使用XTrace,一个连接到SEM的微型XRF源。重点将展示几个应用示例,例如不同基板上的金属涂层、印刷电路板(PCB)上铜上的金/镍涂层。还将讨论太阳能电池的复合层。将对校准标准的结果进行比较,以证明精度和再现性。

本次网络研讨会将以15分钟的问答环节结束,我们的专家将回答您的问题。

Al/Si层样品的假彩色Al-EDS图
Micro-XRF/SEM层厚测量原理

谁应该参加?

  • 确保电子行业薄金属涂层厚度和成分的质量控制专家
  • 涂层质量控制技术人员负责PCB涂层服务的质量保证和故障分析betway手机客户端下载
  • 研发人员
Al/Si层样品的Al线强度

演讲者

马克斯·布格勒博士

应用科学家Micro XRF,Bruker Nano Analytics

斯蒂芬·博姆

布鲁克纳米分析公司micro XRF/SEM和WDS产品经理

扫描电镜微X射线荧光分析

薄金属涂层相关产品的层厚分析