Micro XRF是一种常用的无损分析方法,用于测量不同类型样品的薄膜厚度,无需任何样品制备。此外,可以同时确定该层的组成。这类应用的例子有:PCB板、引线框架和芯片载体上的连接器引脚或焊点,太阳能电池上的涂层,甚至是用于不同材料防腐的涂层。该方法的非破坏性操作和X射线穿透样品并获取表面下材料信息的能力使该方法对单层和多层的厚度和成分分析具有吸引力。必威手机客户端
本网络研讨会将讨论XMethod软件模块中图层模型的开发以及使用XTrace,一个连接到SEM的微型XRF源。重点将展示几个应用示例,例如不同基板上的金属涂层、印刷电路板(PCB)上铜上的金/镍涂层。还将讨论太阳能电池的复合层。将对校准标准的结果进行比较,以证明精度和再现性。
本次网络研讨会将以15分钟的问答环节结束,我们的专家将回答您的问题。
马克斯·布格勒博士
应用科学家Micro XRF,Bruker Nano Analytics
斯蒂芬·博姆
布鲁克纳米分析公司micro XRF/SEM和WDS产品经理