单个杂原子的x射线光谱鉴定

在纳米材料中，单个杂原子对材料的性质起着至关重要的作用。必威手机客户端为了获得对材料性能的最大控制，研究人员必须能够检测和识别不同厚必威手机客户端度和组成的样品中的不同杂原子。在这里，我们用扫描透射电子显微镜的能量色散x射线光谱技术鉴定了两相碳质纳米级混合物中的单个Si, S, P和Ca杂原子。为了充分展示该技术的稳稳性和单原子形态的电子能量损失光谱的潜在优势，没有对样品厚度或杂原子物种的类型进行先验限制。x射线光谱采集时间为8 ~ 57 s，归一化计数率为0.096 ~ 0.007计数s-1 pA-1。通过最小化电子束光栅的过采样面积，使原子上的有效停留时间最大化，从而达到最低的次数/最高的有效计数率。

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应用物理学报第108卷第16期，163101 (2016);作者:R. M. Stroud, T. C. Lovejoy, M. Falke, N. D. Bassim, G. J. Corbin, N. Dellby, P. Hrncirik, A. Kaeppel, M. Noack, W. Hahn, M. Rohde和O. L. Krivanek