AFM-IR和s-SNOM的比较

AFM-IR和s-SNOM是优势互补的技术。与nanoIR3-s，您可以选择具有一种或两种技术的配置，这取决于您的样本和测量需求。AFM- ir直接探测被样品吸收的光，利用AFM探针尖端感知热膨胀。这种热膨胀主要取决于样品的吸收系数ks，并在很大程度上独立于针尖和样品的其他光学性质。因此，AFM-IR技术更适合于需要精确吸收光谱的测量。AFM-IR非常适合软物质的研究，因为这些材料具有很高的热膨胀特性。必威手机客户端

s-SNOM检测直接在AFM探针尖端下被纳米尺度区域散射的光。散射场取决于尖端和样品的复光学常数，包含了丰富的纳米光学现象信息。需要参考样品(如金或硅)来将样品响应贡献从源和尖端分离出来。可能需要建模支持来解释结果。s-SNOM是一种引人注目的光学性质成像纳米尺度对比度技术，在先进材料、器件和基本光/物质相互作用方面有多种应用。必威手机客户端s-SNOM最适用于与光强相互作用的硬材料。必威手机客户端