纳米级红外光谱

散射SNOM

s-SNOM技术提供了有关样品纳米级区域复杂光学特性的信息

红外散射扫描近场光学显微镜（s-SNOM）

该技术提供了金属化尖端下样品纳米级区域复杂光学特性的信息。具体而言，可以测量散射光的光学振幅和相位。通过适当的模型，这些测量可以估计材料的复杂光学常数（n，k）。此外，光学相位与波长的关系很好地近似于通常掠入射的常规红外吸收光谱。

s-SNOM技术适用于多种材料，但最佳信噪比往往适用于具有高反射率、高介电常数和/或强必威手机客户端光学共振的较硬材料。Bruker的nanoIR3-s为s-SNOM功能提供了理想的平台，消除了复杂光学对准的需要：

获得专利的自适应光束控制和全反射光学系统实现了广泛的波长兼容性，同时消除了不同波长的重新对准和聚焦
获得专利的动态功率控制在广泛的光源、波长和采样范围内保持最佳功率和信号
预安装探针和电动探针、样品和源校准消除了探针安装和重新优化中的繁琐步骤

10nm空间分辨率化学成像和光谱学

石墨烯等离子体激元

石墨烯楔上表面等离子体激元（SPP）的s-SNOM相位和振幅图像。（左）s-SNOM相位，具有SPP驻波的线截面；（右）s-SNOM振幅。顶部图像是相位图像的三维视图（左）。

高分辨率属性映射

通过石墨烯薄片的横截面显示低于10nm分辨率的光学特性成像。

最高性能的纳米FTIR光谱

最高性能的红外SNOM光谱仪，配备最先进的纳米红外激光源。

集成DFG连续激光源的纳米FTIR光谱
宽带同步辐射光源集成
用于光谱和化学成像的多芯片QCL激光源

超快宽带散射SNOM光谱探测分子振动信息。聚四氟乙烯（PTFE）的激光干涉图显示了在时域内以自由感应衰减形式的相干分子振动（上图）。样品干涉图中的突出特征是由于C-F模式的对称和反对称模式在频域（左下）中的跳动。纳米FTIR的单层灵敏度在单层pNTP（右下角）上得到证明。资料来源于Markus Raschke教授，科罗拉多大学，Boulder，美国。