分散
MicroscopíaOpticade Campo Cercano deDispersiónPorinfrarrojos（S-Snom）
estaTécnicaProporcionainformaciónsobrelas prediedades opticas complejas de laregióndenanoescala de la muestra bajo una una punta Metalizada。Específicamente，tanto la applitud optica como la fase de la luz depersa se pueden medir。Con Los Modelos Adecuados，Estas药物PUEDEN估计Las Complejas Constantes opticas（N，K）DEL材料。阿德玛斯（Además），la fase optica frente a la Longitud de onda una una una buenaaproximacióna un eSpectro deabsorciónirIr Convenciality confencional Lessormente de Incidencia de castoreo de castoreo。
La técnica s-SNOM funciona en una variedad de materiales, pero la mejor señal al ruido tiende a estar en materiales más duros con alta reflectividad, altas constantes dieléctricas y/o resonancias ópticas fuertes.los nanoir3-s de bruker Proporcionan una plataforma理想的para las las s-snom，leiminando la necesidad de alineaciones opticas complejas：
- ladireccióndehaz Adaptativa patentada y todas las las las reflectantes允许una amplia amplia compatibilidad de longitud de onda，al tiempo que que eminan laeina laeineacioneacioun y el Reenfoque en diferentes diferentes diferentes diferentes diferentes diferentes diferentes diferentes diferentes diferentes diferentes diferentes diferentes diferentes
- El ControlDinámicode Pittencia patentado patentado una una unaseñaloptimasen una amplia gamplia gamplia gamplia de fuentes，纵向
- Las Sondas premontadas y laalineaciónmotorizadade punta，Muestra y fuente leminan los pasos tediosos tediosos enlaistalacióny re-poptimizacióndela sonda
10nmesolución尤其deimágenesquímicasy espectroscopia
Plasmónicosde Grafeno
Asignacióndeprediedades de altaesolución
Espectroscopia nano ftir de Alto rendimiento
Espectroscopia ir snom de Mayor Rendimiento con lafuenteláserNanoirMásAvanzadadoponible。
- Espectroscopia nano ftir con dfg Integrado，fuenteLáserBasadaen continuo
- Integracióndefuente de luzsincrotrónde banda ancha
- fuenteláserqcl多芯片para epectroscopia eimágenesquímicas
组合s-snom y afm-ir para crear nuevos datos notable
LasImágenesReplementarias afm-ir y scationing Snom Revelan，Por Primera Vez，LosOrígenesA Microescala de la Quiralidad optica en Estructurasplasmónicas。Al Acceder tanto a la lainscorlaciónradiativa（s-snom）como a la la la la la la la la la la la la la la la la sobre centructurasplasmónicas，se pueden obtener pssieedades plastiedadesplasmónicasounicasounicasúnicasounicasy Replementarias。
nanoir3-s se extiendemásalládel nanoir a可见
- nanoir3-s允许imágenessnom visibles
- El SistemaAdmágenesthz y Espectroscopia
- diseñoepcialdopmodible para su uso ensincrotrón
- Fácilcambio sobre laconfiguraciónláserpara maximizar el tiempo deMedición
- Intercambio sencillo de componentes opticos y detectores
emiminacióndela necesidad de alineaciones opticas complejas
- ladireccióndehaz Adaptativa patentada y todas las las las reflectantes允许una amplia amplia compatibilidad de longitud de onda，al tiempo que que eminan laeina laeineacioneacioun y el Reenfoque en diferentes diferentes diferentes diferentes diferentes diferentes diferentes diferentes diferentes diferentes diferentes diferentes diferentes diferentes
- El ControlDinámicode Pittencia patentado patentado una una unaseñaloptimasen una amplia gamplia gamplia gamplia de fuentes，纵向
- Las Sondas premontadas y laalineaciónmotorizadade punta，Muestra y fuente leminan los pasos tediosos tediosos enlaistalacióny re-poptimizacióndela sonda
