纳米级红外光谱

散落Snom

S-SNOM技术提供了有关样品的纳米级区域的复杂光学性质的信息

红外散射扫描附近菲尔德光学显微镜（S-SNOM）

该技术提供关于在金属化尖端下样品的纳米级区域的复杂光学性质的信息。具体地，可以测量散射光的光幅度和相位。通过适当的模型，这些测量可以估计材料的复杂光学常数（N，K）。另外，光学相位与波长提供良好的近似于通常放牧入射的常规IR吸收光谱。

S-SNOM技术适用于各种材料，但是最佳的噪声信号倾向于更硬的材料，具有高反射率，高介必威手机客户端电常数和/或强光谐振。Bruker的Nanoir3-S为S-SNOM功能提供了理想的平台，无需复杂的光学校准：

获得专利的自适应光束转向和所有反射光学器件都能够实现宽波长兼容性，同时消除不同波长的重新调整和重新焦点
获得专利的动态功率控制在广泛的源，波长和样品范围内保持最佳功率和信号
预安装探头和电动尖端，样本和源对齐消除了探测器安装和重新优化的繁琐步骤

10nm空间分辨率化学成像和光谱

石墨烯血浆

石墨烯楔上表面等离子体Polariton（SPP）的S-SNOM相位和幅度图像。（左）S-SNOM相位，具有SPP常设波的线横截面;（右）S-SNOM振幅。顶部图像是相位图像（左）的3D视图。

高分辨率属性映射

通过石墨烯片的横截面显示亚10nm分辨率光学性能成像。

最高性能纳米FTIR光谱

最高性能的IR SNOM光谱，具有最先进的纳米激光源可用。

纳米FTIR光谱与集成DFG，基于连续体的激光源
宽带同步rotron光源集成
用于光谱和化学成像的多芯片QCL激光源

超快 - 宽带散射SNOM光谱探测分子振动信息。聚四氟乙烯（PTFE）的激光干扰图显示了时域（顶部）的自由诱导衰减形式的相干分子振动。样本干涉图中的突出显示特征是由于频域（左下角）中的C-F模式的对称和反对称模式的搏动。纳米FTIR的单层敏感性在单层PNTP（右下）上证明了纳米FTIR。数据由博尔德大学，博尔德，博尔德大学罗马克教授提供。