纳米级红外光谱

散射Snom

S-SNOM技术提供了有关样品纳米级区域复杂的光学特性的信息

红外散射扫描近场光学显微镜（S-SNOM）

该技术提供了有关在金属化尖端下样品纳米级区域的复杂光学特性的信息。具体而言，可以测量散射光的光振幅和相位。通过适当的模型，这些测量值可以估计材料的复杂光学常数（N，K）。此外，光相和波长与常规IR吸收光谱通常放牧的发生率提供了良好的近似值。

S-SNOM技术适用于各种材料，但是噪声的最佳信号往往是在具有高反射率，高介电常数和/必威手机客户端或强烈的光学共振的较高的材料上。Bruker的Nanoir3-S为S-SNOM功能提供了理想的平台，消除了对复杂的光学对齐的需求：

获得专利的自适应光束转向和所有反射光学元件可实现广泛的波长兼容性，同时消除重新调整和重新聚焦在不同的波长下
专利的动态功率控制在广泛的源，波长和样品中保持最佳功率和信号
预先安装的探针和电动尖端，样品和源对准消除了探针安装和重新优化的繁琐步骤

10NM空间分辨率化学成像和光谱法

石墨烯等化性

石墨烯楔形上表面等离子体极化子（SPP）的S-SNOM相和振幅图像。（左）S-SNOM相具有SPP站立波的线横截面；（右）s-snom振幅。顶部图像是相位图像的3D视图（左）。

高分辨率属性映射

通过石墨烯薄片的横截面显示以下10NM分辨率的光学特性成像。

最高性能纳米FTIR光谱法

具有最先进的纳米激光源可用的最高性能IR SNOM光谱法。

纳米FTIR光谱与集成DFG，基于连续的激光源
宽带同步器光源集成
多芯片QCL激光源用于光谱和化学成像

超快宽带散射SNOM光谱探测分子振动信息。聚二氟乙烯（PTFE）的激光干扰图显示了时域（顶部）的自由传播衰减形式的相干分子振动。样品干涉图中突出显示的特征是由于在频域（左下）中击败了C-F模式的对称和反对称模式。单层PNTP（右下）证明了纳米ftir的单层灵敏度。数据由美国科罗拉多大学博尔德分校Markus Raschke教授提供。