纳米红外光谱学

散射SNOM)

s-SNOM技术提供了有关样品纳米尺度区域复杂光学性质的信息

红外散射扫描近场光学显微镜

该技术提供了金属化针尖下样品纳米尺度区域复杂光学性质的信息。具体来说，可以测量散射光的光学振幅和相位。通过适当的模型，这些测量可以估计出材料的复光学常数(n, k)。此外，光学相位对波长提供了一个很好的近似于传统的红外吸收光谱通常掠入射。

s-SNOM技术适用于多种材料，但最好的信号噪声倾向于高反射率、高介电常数和/或强光学必威手机客户端共振的硬材料。Bruker公司的nanoIR3-s为s-SNOM功能提供了一个理想的平台，消除了对复杂光学对准的需要:

专利自适应光束控制和所有反射光学，实现了宽波长兼容性，同时消除了不同波长的调整和重新聚焦
专利的动态功率控制在广泛的源、波长和样品范围内保持最佳功率和信号
预安装探头和电动尖端，样品和源对准省去了探头安装和重新优化的繁琐步骤

10nm空间分辨率化学成像和光谱学

石墨烯等离子

石墨烯楔形表面等离子体极化子(SPP)的s-SNOM相位和振幅图像。(左)s-SNOM相，具有SPP驻波的线截面;(右)s-SNOM振幅。顶部图像是相位图像的3D视图(左)。

高分辨率属性映射

通过石墨烯薄片的横截面显示出低于10nm的分辨率光学性质成像。

最高性能的纳米FTIR光谱

最高性能的红外SNOM光谱学与最先进的纳米红外激光源。

基于连续激光源的集成DFG纳米FTIR光谱学
宽带同步加速器光源集成
用于光谱学和化学成像的多芯片QCL激光源

探测分子振动信息的超宽带SNOM光谱。聚四氟乙烯(PTFE)的激光干涉图显示出相干分子振动在时域上以自由感应衰减的形式存在(上)。样品干涉图的突出特征是由于C-F模的对称模和反对称模在频域中的跳动(左下)。纳米ftir的单分子层灵敏度在单分子层pNTP(右下)上得到了验证。数据由美国科罗拉多大学Markus Raschke教授提供。