纳米红外光谱学

散射SNOM)

s-SNOM技术提供了样品纳米尺度区域复杂光学性质的信息

红外散射扫描近场光学显微镜(s-SNOM)

这项技术提供了金属化尖端下样品纳米尺度区域复杂光学性质的信息。具体来说，散射光的光幅值和相位都可以被测量。通过适当的模型，这些测量可以估计材料的复光学常数(n, k)。此外，光学相位对波长提供了一个很好的近似于传统的红外吸收光谱通常掠入射。

s-SNOM技术适用于多种材料，但最佳的信噪比往往是在具有高反射率、高介电常数和/或强必威手机客户端光学谐振的较硬材料上。Bruker的nanoIR3-s为s-SNOM能力提供了理想的平台，消除了复杂光学校准的需要:

专利的自适应光束控制和所有反射光学，使宽波长兼容性，同时消除重新对准和重新聚焦在不同波长
专利的动态功率控制保持最佳的功率和信号在宽范围的源，波长和样品
预先安装的探头和电动尖端，样品和源对准消除了探头安装和重新优化的繁琐步骤

10nm空间分辨率化学成像与光谱学

石墨烯等离子

石墨烯楔形表面等离子激元极化激元(SPP)的s-SNOM相位和振幅图像。(左)带有SPP驻波线截面的s-SNOM相位;(右)s-SNOM振幅。上图是Phase图像(左)的3D视图。

高分辨率属性映射

石墨烯薄片的横截面显示出近10nm分辨率的光学特性成像。

最高性能的纳米FTIR光谱

高性能红外SNOM光谱与最先进的纳米红外激光源可用。

集成DFG的纳米FTIR光谱，连续介质基激光源
宽带同步加速器光源集成
多芯片QCL激光光谱学和化学成像源

超宽带散射SNOM光谱探测分子振动信息。聚四氟乙烯(PTFE)的激光干涉图在时域表现为自由感应衰减形式的相干分子振动(上)。样品干涉图中突出的特征是由于C-F模的对称模和反对称模在结果频域(左下)的跳动。在单层pNTP(右下)上展示了纳米ftir的单层灵敏度。数据由美国科罗拉多大学博尔德分校Markus Raschke教授提供。