Xflash 6-10.

该新一代X射线检测器的核心片是根据漂移室原理起作用的硅芯片。

由于具有集成电荷放大器的特殊芯片设计XFlash^®可以处理非常高的计数率，同时显示出优异的能量分辨率，由任何其他基于硅的能量分散X射线检测器无与伦比的。

总之，Xflash^®6-10提供以下优点：

• 出色的能量分辨率（限量版，MnKα，38eV在Ckα和47eV的38eV可用）
• 其他可用的分辨率是MnKα的123,126和129eV
• 极高的脉冲负载能力
• 优异的轻质元件和低能量性能（BE - AM元素范围）
• 没有详细，振动产生冷却系统
• 电源后立即可用
• 低运营成本
• 免维护操作
• 小尺寸，包括纤维线技术手指
• 低重量

建议Xflash的申请领域^®6-10是：

• EDS SEM，Microprobe，FIB-SEM（作为选项提供的焊接波纹管）
• 光元素和低能量范围分析