XFlash 6 - 10

最新一代x射线探测器的核心是根据漂移室原理工作的硅片。

由于特殊的芯片设计集成了电荷放大器XFlash^®可以处理非常高的计数率，同时显示卓越的能量分辨率，无与伦比的任何其他硅基能量色散x射线探测器。

总之，XFlash^®6-10具有以下优点:

• 杰出的能量分辨率(限量版，在Mn Kα， 38 eV在C Kα和47 eV在F Kα可用)
• 其他可用的分辨率是123ev, 126和129ev在Mn Kα
• 极高的脉冲负载能力
• 优良的轻元素和低能性能(Be - Am元素范围)
• 没有精密的、产生振动的冷却系统
• 上电后立即可用
• 低运营成本
• 不需维护的操作
• 小尺寸，包括纤细的科技手指
• 低体重

XFlash的建议应用领域^®6 - 10:

• 用于扫描电镜，微探针，FIB-SEM的EDS系统(可选择焊接波纹管)
• 轻元素和低能范围分析