原子力显微镜能够探测单个石墨烯薄片,提供原子水平的纳米级细节,自Geim和Novoselov获得诺贝尔奖的发现开启该领域以来,原子力显微镜一直是石墨烯研究的一部分。早期的TappingMode图像,用力量多模®AFM在光学测量确定的位置,明确地发现了单层石墨烯层,这在以前被认为是不可接近的。
在这一发现之后的几年里,石墨烯的研究活动出现了爆炸式增长,利用Bruker AFMs发表了100多篇论文。这些研究包括石墨烯和氧化石墨烯的制备,产品纯度的一致性和已知的低缺陷密度是一个关键挑战,特别是对于可伸缩的石墨烯生产。它们还解决了石墨烯的广泛应用前景,从柔性显示器和快速电子器件到致动器、生物传感器和复合材料。几乎所有领先的石墨烯研究中心的研究人员也在使用我们的技术维XR,维FastScan®和维图标®以推动他们对石墨烯和其他二维材料的研究。必威手机客户端
先进的性能测量在石墨烯研究中令人兴奋的AFM发现中发挥了关键作用。本研究采用Bruker独家的定量力学性质映射PeakForce QNM®Chu等人(J. Procedia Eng 36,571(2012)用于揭开石墨烯层,Lazar等人(J. ACS Nano ASAP 2013)用于量化电子设备应用中控制电极结合的石墨烯金属相互作用。其他的例子是复合材料的纳米级导电率调查(Bhaskar et al ., 216年j .电源,169年,2012年)和功能化石墨烯(费尔et al .,小9(4),631年,2013年),以及KPFM调查澄清电荷渗透途径优化石墨烯氧化物-有机混合场效应晶体管器件(Liscio et al .,材料化必威手机客户端学21,2924,2011)。
最新的Bruker技术预示着更令人兴奋的进步即将到来。PeakForce KPFM™可能允许将混合装置的研究扩展到更高的空间分辨率,更多的定量测量,以及与局部材料变化的相关性,这些变化可以在同时的力学特性绘图中显示出来。未来的电导率研究可能受益于已证实的能力PeakForce金枪鱼™提供最高的空间分辨率对最机械脆弱的样品。PeakForce QNM的进一步研究可能会丰富二维材料石墨烯缺陷的研究,因为这种模式已经在3D晶体上显示出来,从而打开了利用原子缺陷分辨率进行属性映射的大门。
在二氧化硅上制备的石墨烯薄片的地形图,揭示了预期在连续层之间300pm的石墨烯步长。
石墨烯薄片拉曼g波段。拉曼光谱可以通过g波段强度快速绘制石墨烯层结构。
d波段的强度约为1350cm-1表明石墨烯晶格无序。这幅d波段图像表明,沿着样品的单层部分的边缘有一个缺陷增加的区域。
PeakForce KPFM图像显示,单层到双层石墨烯的工作函数变化为80mV,但随后随着每一层的递进而减小。
AFM形貌图像显示感兴趣区域的石墨烯层有褶皱。
对缺陷富区的详细力学性能测量显示,与未受干扰的部分相比,该缺陷富区具有更大的顺应性和更低的附着力,表明石墨烯层在该区域起皱。
变形通道显示石墨烯薄片上的变形大于衬底上的变形,这使得我们可以推断石墨烯薄片在加载过程中比硅更软,但在亚毫秒的卸载过程中不会机械地松弛。
这张模量图像显示了具有更大顺应性的精细结构,在模量地图图像上看到的较暗的区域。