VERTEX 70v

Optique sous vide

Avec le banc optique travaillant sous vide ou purgeable du spectromètre IRTF VERTEX 70v, la sensibilité dans les gamme spectrales de l’IR proche, moyen et lointain IR/THz sont obtenues sans les perturbations atmosphériques tels que la vapeur d’eau ou les absorptions de CO_2.Des résultats exceptionnels, par exemple dans le domaine de la recherche en nanosciences jusqu’aux monocouches, peuvent être obtenus.

Spectroscie Bruker FM FIR-MIR

La technologie unique Bruker FM offre la possibilité d’acquérir un spectre IR complet de 6000 cm^-150厘米^-1En une seuleétapede Mesure sans avoir besoin de modifier aucun composant optique。

Large gamme spectrale

Le VERTEX 70v peut être équipé de composants optiques pour couvrir la gamme spectrale de 10 cm^-1soit l'IR lointain/THz, jusqu’au VIS/UV à 28 000 cm^-1.

Avec Ses Composant Optiquespré-Alignés等人Interféromètrerocksolid^TM永久性，le Changement d'eptique est antertien entretien。

RéseauD'IntelligenceArtificielle

Un assemblage de fonctions telles que la reconnaissance des accessoires et des composants optiques, la mise en place automatique et la vérification des paramètres de mesure rend la spectroscopie IRTF facile, rapide et fiable.

En outre, la vérification en continu des composants spectrométriques permet de réaliser des simples diagnostic et la maintenance des défauts. Une suite complète d’outils logiciels assure cette fonctionnalité.

Plug & Play: Mise en place facile

Où que vous soyez, branchez le cordon d’alimentation et la connexion Ethernet, et le VERTEX 70v est prêt à fonctionner. La connexion Ethernet du VERTEX 70v offre également la possibilité de contrôler le spectromètre via votre réseau ou le World Wide Web.

Le VERTEX 70v est l’instrument idéal pour des applications de recherche et de développement exigeantes.

Les technologies utilisées sont protégées par un ou plusieurs des brevets suivants : US 7034944

Le spectromètre sous vide VERTEX 70v répond parfaitement aux besoins d’applications de recherche qui nécessite une sensibilité élévée et une grande stabilité avec une excellentye résolution temporelle.

La gamme spectrale disponible du FIR/THz permet de répondre aux applications spécifiques pour la recherche industrielle. Le système polyvalent VERTEX 70v peut etre combiné à des accessoires dédiés pour des mesure appropriées à chaque demande dans le domaine de la spectroscopie IRTF.

Recherche et développement

• Technologie d’analyse résolue dans le temps et la spectroscopie de modulation d'amplitude et de phase (PM) (Step Scan / Rapid Scan / Interleaved TRS)
• Spectroscopie IRTF dans l'ultravide
• mesure enÉlectrochimieavec la spectroscopie irtf pourl'étudein lotu s des des electrodes electrodes etdesélectrolytes
• Étude des protéines dans l’eau (CONFOCHECK)
• Détermination de la configuration absolue des molécules (VCD)

制药

• Caractérisation de la stabilité et de la teneur des médicaments par analyse thermique(TGA-IRTF)
• Différenciation des différents polymorphes de principes actifs dans la gamme spectrale du lointain infrarouge(Bruker FM)

Polymères et chimie

• Identification des charges inorganiques dans les composites ou polymères dans la gamme spectrale du lointain IR(Bruker FM)
• étudesdynamiques etrhéo-optiques despolymères
• déterminationdesoposésvolatils etcaractérisationdes processus dedécompositionpar par Analyse Thermique Thermique(TGA-FTIR)
• Surveillance des réactions et contrôle des réactions (sonde de fibre MIR)
• Identification des minéraux et pigments inorganiques

Analyse de surface

• Détection et caractérisation des couches minces et des monocouches
• Analyse de surface combinée à la modulation de polarisation(PM-IRRAS)

Science des matériaux

• CaractérisationdesMatériauxoptiques et coreréfléchissantes（fenêtres，miroirs）
• EtudedesMatériauxTrès吸收剂PAR深度分析和La Spectroscopie PhotoAcoustique（PAS）
• Caractérisation du comportement émissif des matériaux

半导体

• 决心de la teneur en Oxygene et痈dans les wafers de Silicium

Accessoires externes, sources et détecteurs

Le spectromètre sous vide VERTEX 70v est équipé de cinq ports de sortie de faisceau et de deux ports entrée ou émission et offre la possibilité de faire évoluer le système avec des accessoires de mesure externes, des sources et des détecteurs. Cela comprend les éléments suivants :

• Accessoire de modulation de polarisation PMA 50 pour VCD et PM-IRRAS
• Module de Photoluminescence PL II
• Module FT RAMAN Ram II et microscope RamanScope III
  
• Couplage TGA-IRTF
• Microscope IRTF de la série HYPERION
• Systèmed'imagerie irtf Hyperion 3000
  
• Module criblage haut débit HTS-XT
  
• Accessoire d'imagerie宏观iMac焦平面飞机阵列
• CarpartimentÉchantillonExterne XSA，可清理
• Adaptation de chambre UHV étanche externe
• 模块de Mesure pl/pt/pr sous vide
• Unité de couplage pour fibre optique avec sondes en MIR ou NIR pour solides et liquides
• Sphères d’intégration
• périphériquesd'échantillonnageautomatique

• Source externe Hg-Arc pour le FIR
• Séparatrice et détecteur MIR-FIR(Bruker FM)
• Adaptateur externe pour l'émission
• Source externe MIR externe de haute performance
• CartartimentDétecteurExterne - 4个位置Sous vide
  
• Adaptation du bolomètre pour la mesure dans le FIR