顶点70v.

진공광학

顶点70v진공ft-ir분광계의대피광학벤치를통해중거리，근교및远/ thz영역의峰감도는또는또는₂이없없없없을을을없없을을없없없얻어。뛰어난 결과, 예를 들어 나노 과학 연구의 영역에서 하위 단층까지, 얻을 수 있다.

브루커fm fir-mir분광기

독특한Bruker Fm기술은광학부품을변경할필요없이단일단계측정에서6000cm^-1〜50cm-1의완전한및중간ir스펙트럼스펙트럼획득할수가능성을제공합니다。

넓은스펙트럼범위

顶点70V는선택적으로성분을장착하여멀리멀리ir / thz에서^10cm-1부터ir근처의중간및근간통해통해28,000cm-1의vis / uv스펙트럼범위까지스펙트럼를를할수있다。^-1사전전정렬된광학부품과영구적으로정렬정렬rocksolid^TM值간섭계를통해범위변경이용이하고유지보수가없습니다。

인공지능네트워크

샘플링 액세서리 및 광학 부품 인식, 자동 설정 및 측정 파라미터 검사와 같은 훌륭한 기능의 조립으로 FT-IR 분광법을 쉽고 빠르고 신뢰할 수 있습니다.00전체전체도구제품군은이기능을보장합니다。

플러그앤플레이：간편한설정

전세계，어디에있든전원코드이더넷연결을연결하고顶点70v는작동할준비가되어있습니다。顶点70v에대한이더넷연결은네트워크월드월드이드웹웹을통해분광계분광계를할수

顶点70v는까다로운연구및응용분야에이상적인도구입니다。

사용되는기술은다음특허하나하나이상으로으로됩니다：US 7034944

顶点70v진공분광계고감도，안정성및시간적해상도가필요필요한연구응용분야의요구요구완벽부합부합부합하게하게부합FIR / THZ영역까지사용가능한스펙트럼스펙트럼범위는산업연구를위한가적으로특정응용프로그램을가능하게하게다목적顶点70v시스템은ft-ir분광법분광법의거의모든에적합한와적절한기술을사용하여제공기술을을제공제공제공제공제공제공제공

연구개발

• 시간해결뿐만아니라진폭（am）및위상변조（PM）분광기（단계스캔/빠른스/인터리브trs）에대한연속및단계스캔기술
• 초고진공의ft-ir분광법
• 전극전극표면및전해질전해질의시상사를를ft-ir분광화학
• 물에서단백질의조사（Confocheck）
• 분자분자의절대구성의（VCD）

제약

• 열분석（TGA-FT-IR）을통해통해의약품제품의의안정성및휘발성함량의특성
• 원적원적외선영역에서에서활성제약의의분화（브루커fm）

폴리머및화학

• 원적외선영역（Bruker FM）의폴리머복합재에서무기필러식별
• 폴리머의동적및레오광학연구
• 열분석（TGA-FTIR）에의한의한휘발성화합물의의측정및분해공정의특성
• 반응모니터링및반응제어（mir섬유프로브）
• 무기미네랄및안료식별

표면분석

• 얇고단층의검출및특성화
• 편광변조（PM-IRRAS）와와결합표면분석

재료과학

• 광학및및사재료재료특성화（창문，거울）
• 사진음향분광기（PAS）에의해어두운재료와이프로파일링의의사
• 재료의발광행동의특성화

반도체

• 품질관리를위한실리콘웨이퍼의의산소및탄소탄소함량

외부액세서리，소스및검출기

顶点70v진공분광계에는와개의출구포트와와업그레있으며측정액세서리액세서리쉽게되어감지기측정액세서리을쉽게업그레감지기측정액세서리쉽게업그레업그레및수액세서리쉽게이드드할수수。여기에는다음이포함포함。

• VCD.및PM-Irras용PMA 50편광변조액세서리
• PLI II광발광모듈
• Ram II FT-라만모듈과라스코프IIIft-라만현미경
• TGA-FT-IR커플링
• 아이페리온시리즈ft-ir현미경
• 하이페리온3000 FT-IR이미징시스템
• HTS-XT높은처리량스크리닝延伸
• imac초점평면배열매크로이미징액세서리
• 외부샘플컴파트먼트xsa，대피또는제거가능
• 외부진공단단한uhv챔버적응
• 진공pl / pt / pr측정장치
• 고체및액체용mir또는nir광섬유프로브가있는광섬유커플링유닛
• 큰통합구
• 자동샘플러장치

• 외부冷杉的hg소스
• 독특한넓은범위의mir-fir빔스플리터및검출기（브루커FM）
• 외부배출어댑터
• 외부고성능mir소스
• 외부진공4위치검출기챔버
• FIR범위범위의검출검출을위한볼로미터볼로미터