SpectroscopieInfrarugeàl'échelleNanométrique

分析DesDéfaillancesetcaractérisationdesMatériXux

Une Plate-FormeComplèteCeachérisationStsProduitsChimiquesàl'échelleNanométrique,D'ImagerieChimiqueàl'échelleNanométriqueet decoractérisationdesmatérix

乐s groupes d’analyse des défaillances et de caractérisation des matériaux au sein des entreprises industrielles se concentrent sur la résolution de problèmes afin d’améliorer l’élaboration des processus et de résoudre les problèmes liés aux processus afin d’aider leurs organisations à économiser des coûts et à accroître leurs revenus.

Nanoir3-S.Fournit Une Plate-FormeConfthètedeCractérisationdesProduitsàl'échelleNanométrique,De L'Imagerie Chimique et desMatériXux。IL Compine Deux Techniques d'IrCompansmentairesàl'échelleNanométrique,L'AFM-IR et La扩散SnomCompearéeàLautablographiedespropriétésdesmatérixà基地d'afm。LeSystèmeSESTProductIF et Feiable,Vous Obenant desDonnées生产Dans LaJournée。Les要求的内容:

  • 污染物纳米乳房的有机物
  • DiélectriquesLowk.
  • Matérix半导体
  • 支持DeNnéeset刁奈斯

LES纳米污染物有机体Constituent联合国墓地ProblèmededéfectuityéPourreprisesde Semi-Midears et de Scoteage deDonnées,OùLES技术DeCaractérisationActuellesOnt DesProcencitésIngées。LeSystème.nanoir3.Acbiert des PidersIRàdsrésolutions别墅r r 10 nm,渗透物lamesuredecesdéfautsettethatresmatérix半导体。

LES幽灵Générésàl'AIDEDALICEBREVETÉEFM-IRDE BRUKER SONT DIRECTEN ENCOLRÉLOINATIONAVECLESPECERCESFTIR TRAVERTICNELS,et SONT DONC同步奥克斯BIBLIOTHUES FTIR标准。en Plus de L'Analyze Chimique,Nanoir3 Fournit Des InformationsCompulémentesSurLesBiensMécaniques,Élecritriques,Thermiques et StructurauxAvecRésolutionSpatialeàl'ÉchelleNanométrique。