故障分析和特性
ftir ftir，，成像和材料平台平台
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nanoir3-sftir ftir，，成像和材料表征平台。它结合两两种种互补的的的纳米级纳米级技术技术技术技术技术技术技术技术技术技术技术技术技术技术技术技术，afm-ir snom，snom，snom，snom，以及内实现。：：
- 纳米有机污染物
- 低电介质
- 半导体材料
- 数据存储介质幻灯片
有机纳米和数据公司的严重缺陷，因为问题，因为因为问题目前的表征nanoir3在类类nanoir3系统。测量的的测量中系统技术技术技术技术技术技术技术技术技术技术技术技术技术技术技术技术技术技术技术技术技术技术技术技术技术技术技术技术技术技术技术技术技术技术技术技术
ftir光谱的的的的的的的的的的光谱光谱与相关相关相关相关相关相关相关相关相关相关相关相关相关相关电气，结构属性信息。
