矿物:勘探与发现

探路者&勘探中的指示矿物

探路者和指示矿物为评估大面积的矿产潜力提供了一种稳健且经济有效的方法。Bruker正积极与行业领导者合作,开发新的分析方法,以改进矿物鉴定和成分表征工作流程。

介绍

指示矿物

随着矿产勘探成本的不断增加,需要采用稳健的方法来评估区域远景并改进目标细化。探路者和指示矿物提供了一种评估大面积矿产潜力的方法,并在进一步钻探之前将可能的贫瘠区域从考虑范围中剔除。

Bruker正积极与行业领导者合作,开发新的分析方法,以改进矿物鉴定和成分表征工作流程。Bruker认识到,准确的数据可以在地区范围内和更大范围内扩大到成矿模型,因此致力于构建能够为任何项目产生正确数据输出的仪器和软件。Bruker系统允许任何公司通过为内部实验室和区域勘探办公室设计的解决方案,消除因缺乏分析专业知识而带来的障碍。Bruker的全球地质团队可以帮助为所有区域勘探需求找到合适的解决方案。

区域勘探用RIMS

区域远景和肥力的抗性矿物指标

抗风化的岩浆和热液矿物最终进入土壤、土壤或河流沉积物中,越来越多地成为矿物勘探的目标,作为整个区域或区域远景或矿化载体的测试。锆石、磷灰石、钛铁矿和金红石等可测年矿物的关键微量元素含量提供了了解源岩浆化学的窗口,包括结晶温度、分馏程度、含水量和氧化状态,以及与源岩年龄及其相关岩浆事件直接相关的地球化学数据。矿化事件期间形成的抗蚀矿物为水棚内或冰川沉积物上游的水热蚀变带的暴露提供了直接证据,其化学成分指向矿化与贫瘠环境,甚至区分沉积物类型。必威官网体育下载

Bruker针对抗性指示矿物(RIMS)勘探计划的不同分析需求提供解决方案:

  • M4龙卷风M4龙卷风升级版micro XRF可快速扫描准备最少的样品,以提供空间定位的地球化学数据。扫描未抛光或有涂层的松散沉积物或土壤样本,破碎或完整岩石,使用地球化学代理识别矿物或整合地图计算散装成分。
  • M4龙卷风的AMICS自动矿物学显微XRF和扫描电子显微镜允许两个层次的矿物学鉴定和表征。M4龙卷风之友提供松散样品的快速扫描和评估,无需抛光或导电涂层,提供反馈至决策的一阶数据,并进行筛选以进行进一步分析。AMICS for SEM是一种处理抛光样品的更传统的自动化矿物学方法,但具有Bruker的AMICS软件的高级数据收集和还原功能。扫描电镜和电子显微镜的AMICSM4龙卷风完全兼容,允许两种解决方案协同工作。

远端蚀变足迹

远端蚀变足迹的矿物指标

蚀变矢量化和生育力筛选是早期勘探技术,适用于暴露有限或勘探涉及部分或广泛覆盖的情况。该技术旨在获取蚀变矿物中保存的低水平地球化学异常,目的是即使在距离矿化中心很远的地方也能检测到蚀变,从而对目标进行定位和评估,并评估潜在的肥力或禀赋。常见的目标矿物包括“绿岩”环境中的绿帘石和绿泥石、有助于岩盖环境中矢量化的明矾石或粘土矿物,或白色云母,它们可能出现在蚀变带的远端,但为矿床类型、蚀变带、邻近性和肥力提供线索。

Bruker分析解决方案使我们的客户能够专注于他们的探索需求,并完善他们的目标定位和引导策略。

  • M4龙卷风M4龙卷风升级版micro XRF可快速扫描钻芯、RC碎屑和沉积物样品,以生成地球化学图并识别蚀变矿物。整合区域扫描以计算准确的整体成分,或从地图中选择的子域来比较非均质蚀变岩石的成分。数据输出可与现有地球化学建模程序集成,用于计算蚀变指数或构建三维模型,以支持稳健决策。
  • 友人扫描电子显微镜为蚀变矿物化学和检测远端足迹提供了下一级自动化矿物学解决方案。自动快速(短计数)矿物鉴定可辅以回推长计数量化,以准确表征绿岩和远侧足迹指示矿物

散装样品

散装样品中的探路者矿物

绿地勘探的需要通常需要快速、低成本的解决方案来筛选散装样品。筛选方法,以探路者元素为目标,作为现场决策的代理,或引导样品漏斗进入适当的矿物学或成分分析技术。对于快速筛选可能存在探路者矿物的散装样品,解决方案包括:

  • 泰坦手持式XRF,采用坚固的外壳和泰坦探测器屏蔽保证保护探测器窗口和可选的安全联锁台式支架,以便在从Mg到U的分析过程中实现最大的便携性和灵活性
  • 这个CTX,一种新的便携式单样品加固台面XRF,带有备用电池,用于分析从Mg到U

相关普罗多蒂