x射线反射率(XRR)提供了详细的information on the vertical sample density profile, layer thicknesses, and interface roughness. High-resolution X-ray diffraction (HRXRD) measures the crystallographic structure of the sample. Grazing-incidence Small Angle Scattering (GISAXS) is used for evaluation of nanoparticles and porosity. Residual Stress analysis probes the strain status of bulk samples and polycrystalline coatings.
Along with conventional single-curve scans, LEPTOS enables analysis of high-resolution HRXRD and XRR reciprocal space maps, GISAXS and XRD² Stress frames, area mapping for HRXRD, XRR, and Residual Stress applications. It doesn’t matter whether data have been collected with 0-D, 1-D or 2-D detectors.
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Leptos R的设计用于分析X射线反射率(XRR)数据和薄层结构的特定分散散射(DS)。该模块完全集成在Leptos Suite中,该套件同时分析了HRXRD,GISAXS和XRR数据。作为LEPTOS套件的一部分,R模块继承了整个软件包中常见的所有功能。
Leptos R在包括VAMAS项目A10在内的几个国际基准中得到了高度评价。Leptos R的结构符合新开发的XRR数据数据格式的国际RFCIF标准。
Leptos H代表高分辨率X射线衍射和放牧的X射线衍射数据分析。
该模块完全集成在Leptos Suite中,该套件同时分析了HRXRD,GISAXS和XRR数据。作为LEPTOS套件的一部分,H模块继承了整个软件包中常见的所有功能。
Leptos S是通过使用经典SIN2ψ和扩展的XRD2方法来分析通过0D,1D或2D检测器测量的残余应力的创新,强大且全面的模块。该模块已完全集成在Leptos Suite中,并继承了整个软件包中常见的所有功能。
leptos g对放牧的小角度散射数据进行了评估,该数据是从含有嵌入在地面区域内或位于样品表面的纳米级颗粒的样品中测量的。这些可以例如掩埋或表面半导体量子点和岛屿,多孔材料,冷凝粉末,嵌入聚合物纳米粒子等。模块G的许可证还包括用于X射线反射率的R模块。必威手机客户端
版本 | The current software version is V7.10.12 |
分析方法 |
动力帕拉特的形式主义 界面粗糙度模型的多样性 计算X射线散射参数的操作方法 特征的专利方法(MEW) Fast 2x2 and precise 4x4 Recursive Matrix Formalism Classic and extended sin2ψ, as well as XRD2 methods 评估来自多个{HKL}的残余应力 多晶涂层中的应力/应变梯度 |
Operating system |
Windows 8和10(32位或64位) |