纳米材料的扫描电镜相识别必威手机客户端
布鲁克的QUANTAXEDS/EBSD系统最受欢迎的特点是其先进的EBSD和EDS技术的集成。优秀的集成也可用于电子透明样品，尤其强大的结合eFlash FS和独特的XFlash®FlatQUADEDS探测器。这种组合提供了无与伦比的数据质量、空间分辨率和高吞吐量。特别是当结合专利的TKD样品支架和新发布的x射线面罩。在这个应用实例中，氧化物弥散强化铁素体合金证明了模拟的必要性跆拳道用XFlash进行EDS测量®FlatQUAD，以执行相识别以及区分晶体学上相似的相。
被测区域的亮场ARGUS图像。样品是铁素体ODS钢的TEM箔，检测到氧化物颗粒。TKD/EDS联合测量在20 kV和6 nA下进行。
EDS由eFlash FS和XFlash FlatQUAD同时测量TKD/EDS结果。揭示了氧化钛颗粒的识别和分布。输出计数率为~1百万次/秒，即>3000次/谱。右:用于TKD样品支架的X-rella掩模。它阻止杂散x射线，允许只从TKD样本收集EDS信号。
EDS由eFlash FS和XFlash FlatQUAD同时测量TKD/EDS结果。揭示了氧化钇颗粒的识别和分布。输出计数率为~1百万次/秒，即>3000次/谱。右:用于TKD样品支架的X-rella掩模。它阻止杂散x射线，允许只从TKD样本收集EDS信号。
EBSD方向分布结果(IPF Z map)，索引命中率为87%。氧化物相识别离线执行，以优化时间在SEM，使用检测波段和量化光谱。
EBSD相图中铁氧体为红色，立方二氧化钛为绿色，三角氧化钇为蓝色。仅基于菊池波段索引的EBSD相位图:立方相位之间存在一些错误索引。
借助EDS量化辅助，重新分析EBSD相位图，没有出现错误索引。