Innova-IRIS combines industry-leading AFM performance and Bruker-exclusive TERS probes to deliver the world's only complete, guaranteed tip-enhanced Raman spectroscopy (TERS) solution. It merges seamlessly with the Renishaw inVia micro-Raman system while fully preserving the capabilities of each separate component. The result is a productive and completely integrated platform for correlated micro- and nanoscale property mapping that extends the boundaries of AFM applications to nanospectroscopy and nanochemical analyses.
出版记录证明,离轴反射几何形状是最大化光捕获的最佳解决方案,同时充分考虑了小费遮盖和极化效果。Innova-iris利用了一种新型的光学体系结构,该光学结构可从探针的前侧访问尖端样本连接,以提供理想的光路,没有障碍物。Bruker Innova样品扫描AFM与Renishaw Invia Micro-Raman系统的共同设计的集成在扫描过程中唯一保留了光学“热点”对齐,以使集成TERS成像的严格要求。在此类敏感研究所需的较长信号整合时间中,保留了尖端的完整性和定位。
与Renishaw Invia的Innova-Iris集成完全保留了AFM和Raman显微镜的毫不妥协的性能,功能和灵活性。每个人都使用自己的全功能实时控制和数据分析软件包。结果是一个单个集成系统,该系统可以使互补的纳米级地形图,热,电气和机械信息的相关性相关。