Dual Port METALJET

ハイライト

METALJETは実験室系X線源の中で最も高輝度なX線を発生します。

タンパク質X線回折 (PX) と小角X線散乱 (SAXS) 測定を最適化するために、この最も強力なX線源の両サイドを有効活用することができます。

単結晶X線回折には、METALJETとPHOTON II / III検出器を備えたD8 VENTUREが、放射光品質のデータに迫る実験室システムを提供します。

生体用小角X線散乱 (Bio-SAXS) には、コンパクトで高性能なNANOSTARシステムが、結晶学、NMR、分子動力学などの他の技術からの構造データと定量的に結び付けられたSAXSデータ解析に対する数多くのニーズを満たすための最良のソリューションです。

デュアルポートプラットフォームは、第1ポートのみを利用することもでき、かつ簡単に機能をアップグレードする柔軟性を有します。今すぐに第2ポートが必要ない場合でも、将来的のニーズの変化に可能性を拡げます。

特長

D8 VENTURE －機能とメリット

METALJET X線源とHELIOS MX集光光学系
METALJETの発生するX線を効率的に利用する最適な超高精密設計光学系 (特許技術)
すぐれた回転中心精度を有する高速Kappaゴニオメーター
大型空冷式CMOS検出器 PHOTON II / III
最高水準の品質・性能・信頼性
コンパクトシステムデザイン
高分子結晶学に適した最も包括的なPROTEUM3ソフトウェアパッケージ
Bio-SAXS用NANOSTARと有機的に統合されたデュアルポート構成

NANOSTAR －機能とメリット

実験室で利用できる最も高輝度で高品質なビームを生み出すMETALJET X線源とHELIOS P光学系
最高のフラックスと最小の寄生散乱を実現するSCATEXピンホール
最高のS/N比を実現する最大の2Dフォトンカウンティング検出器 VÅNTEC-2000 / 500
高分子SAXSのための最も強力で使いやすいSCÅTTERソフトウェアパッケージ
低Qminを実現する最良の角度分解能
コンパクトなシステムデザイン
D8 VENTURE単結晶構造解析システムと有機的に統合されたデュアルポート構成

ソフトウェア

PLAN.MEASURE.ANALYZE － DIFFRAC.SUITEソフトウェアパッケージ

DIFFRAC.SUITE™は、粉末X線回折などのデータ取得と評価を簡単に行うための幅広いソフトウェアモジュールを提供します。Microsoftの.NET技術をベースにしたDIFFRAC.SUITEは、安定性、使いやすさ、ネットワーク化など、最新のソフトウェア技術のメリットをすべて備えています。

カスタマイズ可能なユーザーインターフェースは、プラグインフレームワークデザインを採用し、共通のルック＆フィール、操作性を提供します。すべての測定・評価ソフトウェアモジュールは、個別のアプリケーションとして操作することも、DIFFRAC.SUITEのプラグインフレームワークに統合して使用することも可能です。無制限のネットワーキングにより、ネットワーク内にあるD2 PHASER、D8 ENDEAVOR、D8 ADVANCE、D8 DISCOVERのあらゆる回折計へ自由にアクセスして制御することができます。

測定ソフトウェア:
WIZARD– 測定条件検討と作成
COMMANDER– 装置制御とマニュアル測定
TOOLS – メンテナンスインターフェース
粉末回折ソフトウェア:
DQUANT– 各種定量分析
EVA– 結晶相定性と汎用粉末XRD解析
TOPAS– プロファイル分析・定量分析・構造解析

材料解析ソフトウェア:
SAXS– SAXS解析ソフトウェア
XRR– 包括的なXRR解析ソフトウェア
TEXTURE– 使いやすさを実現した極点図解析ソフトウェア
LEPTOS– 薄膜解析、残留応力解析

ウェビナー

詳細