PolyTools 2.0

PolyTools可以直接使用flexAnalysis或其他Bruker程序或其他来源创建的峰值列表。PolyTools将自动确定产生测量质谱的单体、端基和阳离子。如果同位素在峰值列表中被解析，则属于同位素分布的谱线将被识别，并可减少为单同位素系列。对于每个系列，平均分子量M_n和M_w分散性_米确定了聚合度，并对端基提出了建议。根据这些数据计算出了新的杆谱，并与实验谱进行了比较。

此外，在PolyTools 2.0版中，实现了一个新的Kendrick绘图函数，使用户能够以图形方式概述光谱中观察到的峰系列，并有助于组织和解释光谱中的峰系列，尤其是复杂混合物样品的峰系列。

从样品溶解到PolyTools显示分析聚合物的结果只需要几分钟。因此，PolyTools与MALDI飞行时间质谱仪的质谱分析相结合是获得快速和可靠的进口货物信息的理想组合。平均分子量M_n和M_w以及观察到的端基组合可直接与对照化合物进行比较。

聚合物的复杂混合物，如非离子表面活性剂吐温，需要对光谱进行不同的可视化：在这种情况下，对发现的低聚离子系列进行简单的模拟是不够的。PolyTools提供了以Kendrick质量缺陷（KMD）图和分辨率增强KMD图的形式显示光谱的可能性。对于在低分辨率仪器上获得的质谱，或从仅能实现低聚物分辨率的较高质量范围获得的质谱，PolyTools包含Kendrick质量（RKM）图的剩余部分。与常规和分辨率增强的KMD图相比，这可用于增加质量公差。甚至超过10kDa的质量范围或TOF/TOF光谱也可以合理地可视化。

对于端基分析，PolyTools 2.0提供了使用名义肯德里克质量(RNKM)的剩余部分的两个图:KMD - RNKM和RKM - RNKM。作为PolyTools 2.0的一部分，聚合表编辑器允许方便地设置表中的单体单元、端基和阳离子，作为PolyTools 2.0中的光谱解释数据库。

在完整的质谱实验中，检测到低聚物物种。观察到的质量是由一定数量的单体单元、电离阳离子和两个端基的质量组成的。因此，单端基分析不能通过这种方法得到。MS/MS实验可以提供这一信息，因为每个片段只携带一个单端基[1]。

MS/MS可以更深入了解聚合物样品结构的另一个应用是测定嵌段共聚物中的嵌段长度[2]。

[1] Knop等人。；不同替代mPEG 2000的系统MALDI-TOF CID调查；大分子酚。化学。物理。2010, 211, 677–684

[2] Weidner等;利用液相色谱与基质辅助激光解吸/电离飞行时间质谱联用的新型聚合物表征软件工具;快速Commun。质量范围。2007;21日,2750 - 2758