PolyTools 2.0

PolyTools可以直接使用由flexAnalysis或其他Bruker程序或其他来源创建的峰值列表。PolyTools将自动确定产生测量质谱的单体、端基和阳离子。如果在峰表中解析出同位素，则可以识别出属于同位素分布的线，并可以还原为一个单同位素系列。对于每个级数，平均分子量M_n和M_w，分散性Đ_米确定了聚合度，并对端基的选择提出了建议。根据这些数据计算出新的棒状光谱，并与实验光谱进行比较。

此外，在PolyTools 2.0版本中，实现了一个新的Kendrick plot函数，为用户提供光谱中观察到的峰序列的图形概述，并有助于组织和解释光谱中的峰序列，特别是复杂的混合样品。

从样品溶解到PolyTools显示分析聚合物的结果只需要几分钟。因此，PolyTools结合质谱分析和MALDI飞行时间质谱是获得快速可靠的来料货物信息的理想组合。平均分子量M_n和M_w而且观察到的端基组合可以直接与参比化合物进行比较。

复杂的聚合物混合物，如非离子表面活性剂Tween需要不同的光谱可视化:在这种情况下，简单模拟发现的低聚体离子系列是不够的。PolyTools提供了以Kendrick质量缺陷(KMD)图和分辨率增强KMD图的形式显示光谱的可能性。对于在分辨率较低的仪器上获得的质谱，或从只有低聚体分辨率的较高质量范围获得的质谱，PolyTools包含Kendrick mass (RKM)图的余数。与常规和分辨率增强的KMD图相比，这可以用于增加质量公差。即使质量范围超过10 kDa或TOF/TOF谱也可以合理地可视化。

对于末端群分析，PolyTools 2.0提供了两个使用公称Kendrick Mass (RNKM)剩余部分的图:KMD - RNKM和RKM - RNKM。作为PolyTools 2.0的一部分，聚合表编辑器允许在表中方便地设置单体单元、端基和阳离子，作为PolyTools 2.0中光谱解释的数据库。

在一个完整的质谱实验中，发现了寡聚体物种。观察到的质量是由一定数量的单体单元、电离阳离子和两个端基的质量组成的。因此，这种方法不能得到单端基团分析。质谱/质谱实验可以提供这一信息，因为每个片段只携带一个单端组[1]。

MS/MS的另一个应用是测定嵌段共聚物[2]的嵌段长度，它可以更深入地了解聚合物样品的结构。

[1] Knop等;不同取代mPEG 2000的MALDI‐TOF CID系统研究絮凝。化学。物理学报，2010,61 (4):577 - 584

[2] Weidner等;一种新型的共聚表征软件工具-液相色谱-基质辅助激光解吸/电离飞行时间质谱联用快速Commun。质量范围。2007;21日,2750 - 2758