跟踪元素和矿化:组合Micro-XRF和SEMS / WDS的好处

这个网络研讨会于4月13日发生在2021年4月13日

概述

在许多经济存款中,兴趣的元素或矿产是一种痕量组成部分。但是,识别这些元素和矿物质的能力取决于它们的发生方式。这些信息对于了解沉积物的成因以及矿物质和冶金方法是重要的,以产生最大恢复。具体而言,所示的示例将突出跟踪元素和迹线矿物质和分析工具之间的差异,以最佳支持最终的项目目标。

组合微XRF.和sem-eds./WDS将扩展您的工作流程分析功能。Micro-XRF是分析微观规模的大面积,也是一种强大的工具,用于识别痕量元素或矿物质,甚至直接来自钻孔核心样本。相比之下,SEM分析允许在高放大率下理解元素和矿物学过程所需的更高空间分辨率。SEM-EDS / WDS组合允许在高光谱分辨率下进行分析,即使是微量元素。

将讨论每个的利益和能力,最终为您的分析需求提供最佳工作流程。

将有15分钟的Q&A会议,我们的专家将回答您的问题。

Micro-XRF(M4 Tornado)图像 - 顶部:电影马赛克20厘米钻芯,白色盒子是分析面积(18厘米×4厘米);底部:Si,K和Au的组合元素图。
量化的CO映射的小(<100μm)结合硫铁矿粒
AMIC矿物的矿物质地图,显示基于CO浓度的不同硫铁矿分类

谁该参加?

  • 地质学家试图了解矿石创世纪和过程
  • 冶金学家需要有关最合适的矿物加工条件的信息,以优化恢复
  • 来自工业和学术界的研究人员调查经济矿化

扬声器

安德鲁博士

高级应用科学家地质和矿业,Bruker Nano Analytics

Roald Tagle博士

高级应用科学家Micro-XRF,Bruker Nano Analytics