高分辨率原位SPM成像
卓越的纳米机械测试结果
Bruker是原位扫描探针显微镜（SPM）成像的先驱，其直接与高分辨率SPM成像进行纳米力学和纳米学表征。原位SPM技术利用相同的探头以进行操作的样品表面，用于进行测试，允许在现场快速收集图像而不留下测试位置。布鲁克’s in-situ SPM imaging inherently increases accuracy, repeatability, and speed of testing since ex-situ imaging methods, such as operating an AFM in parallel, requires additional time in moving the sample to another imaging location and presents significant challenges associated with reliable positioning on the desired testing sites.
10μm扫描尺寸，1024 x 1024分辨率，陨石样品的形貌图像。
扫描尺寸和垂直轴的分辨率可以独立更改：30μmx30μm扫描尺寸，256 x 256分辨率（顶部）;和60μmx30μm扫描尺寸，512 x 256分辨率（底部）。
纳米精密测试放置精度
Bruker的原位SPM成像提供了与测试相同的成像分辨率作为测试，在纳米尺度上实现真正的定量和准确表征。测试部位的测试前SPM成像使得能够直接测量具有纳米分辨率的表面形态（例如微结构，地形，粗糙度），并且对于在测试之前避免表面缺陷至关重要。高精度±10nm测试位置精度简化了多相材料的测试，并允许将微观结构（例如形状，域的尺寸或域的分布）直接相关到机械性能。必威手机客户端另外，测试后SPM成像提供了材料变形行为的定量表征（例如，断裂，堆积）和测试放置的验证。
分辨率高达4096 x 4096
Bruker的SPM +将纳米机械SPM成像功能带到全新水平。具有SPM +，扫描尺寸和图像分辨率完全可定制，以满足您的特定样本分析需求。
