地幔岩石学和钻石来源
这里显示的是来自钻石纽兰斯金伯利特（南非，Kaapvaal Craton）的镶嵌石榴石 - 尖晶石的SEM-XRF元素图。各种元素的强度表示样品中存在的某些矿物质;例如Ca（绿色） - 临床;Cr（蓝色） - 铬铁矿;Al（黄色） - 石榴石，和k（橙色）用于弥撒。使用该薄部分进行分析SEM上的microxrf.。样品约为3cm×2cm，并作为单个框架分析。每个像素的全频谱允许进一步的离线处理，例如添加元件，频谱提取从地图中，地图或自动阶段的量化。
微XRF数据具有识别高能X射线线以及样品内的痕量元素的优点。微XRF是小点分析（约35微米），尽管大于电子束。相互作用体积远大于电子束的尺寸，并且是元素和样本矩阵。因此，2D元素地图可以在电子束和X射线生成的图之间产生差异。下光谱背景允许检测电子束不可能的跟踪元件。样品制备要求不同;例如，没有充电效果，因此没有样品涂层。此外，由于信息深度，不需要高质量的抛光。此外，可以分析粗糙的样品，只要它具有平坦表面即可。量化可以是标准化的或基于标准的。
来自纽兰兹金伯利特的大面积X射线图（30 mm x 20 mm）由XTrace获取的纽伯伯利特（分析参数：管电压Rh处为50 kV，阳极电流600μA，像素间隔25μm）。混合元素强度图（CA - 绿色，Fe - 天蓝色，k - 橙色，ti紫色）。
来自纽兰兹金伯利特的大面积X射线图（30毫米x 20 mm）用XTrace获取的纽兰基伯里塔（分析参数：管电压RH为50 kV，阳极电流600μA，像素间隔25μm）。从左到右的顶行：Mn（红色），CA（绿色），Cr（蓝色）;从左到右的中间排：Fe（天蓝色），Si（紫色），al（黄色）;从左到右的底部行：K（橙色），Mn（浅绿色），Ti（深紫色）。
来自纽兰兹金伯利特的大面积X射线图（30毫米x 20 mm）用XTrace获取的纽兰基伯里塔（分析参数：管电压RH为50 kV，阳极电流600μA，像素间隔25μm）。从左到右的顶行：F1总X射线强度图（灰色），Ni（绿色）;从左到右的底部行：Cu（蓝色），s（黄色）。