ML plus

利用X射线荧光分析（XRF）可以很容易地确定多层样品的层厚度和化学成分。分层样品直接在波长色散X射线荧光光谱仪（WDXRF）上进行分析S8老虎.

毫升^加正在扩展光谱^加用于单层和多层样品的波长色散X射线荧光分析（WDXRF）。它允许直接测定样品层的厚度和成分，样品层的厚度和成分低至几个原子层（小于1 nm），高达µm-甚至mm范围。

毫升^加所有计算均使用完整的基本参数方法。MLplus中厚度和成分的测定基于光谱的无标准校准^加，即不需要特定的多层标准。然而，任何可用的多层标准均可用于优化结果。

毫升^加一旦建立模型，可用于每次测量后的自动评估。这使得多层分析可用于常规过程控制，例如在层状玻璃或涂层钢的生产中。