AFM模式

peakforce sec

基于AFM的扫描电化学显微镜

最后 - 完整的SECM解决方案

Bruker的独家Peakforce Secm™模式是世界上第一个基于AFM的扫描电化学显微镜(SECM)的完整商业解决方案。使用少于100纳米的空间分辨率,PeakForce SecM™独特地提供了具有纳米级横向分辨率的地形,电化学,电气和机械图的同时捕获。该技术从根本上重新定义了液体和化学过程的纳米级可视化中的可能性。

获取以前无法实现的电化学信息

(a)由EC电流皮肤覆盖的纳米孔电极(Au-SiO2)的3D形貌;(b)(a)中Au-SiO2表面的地形和EC变异的线谱;(c)地形和纳米电极阵列样品的地形和EC变化的线谱。Nanomesh电极样品由C. Stelling和M. Retsch,Bayreuth大学提供。图片由Bayreuth大学的A. Mark和S.Gödrich提供。纳米电极阵列样本由M. Nellist和S. Boettcher教授,俄勒冈大学。

Peakforce SECM通过数量级,通过传统方法的解决权力显着提高。这将研究加速了对储能系统(例如,锂离子电池),腐蚀科学和生物传感器的研究,在单个纳米粒子,纳米粒子和纳米孔上打开门上的新型测量。

在液体中进行同时电化学,电气和机械映射

Au衬底上的微接触印刷CH3-Thiol自组装单层(SAM)的Peakforce Secm图像:(a)形貌变化<1nm;(b)峰值QNM粘附力;(c)电化学活性在升高40nm处。(b)和(c)分别在Au和Sam区域之间定量700 pn和108Pa差异分别在Au和Sam区域之间的粘附力和电化学电流的差异。图片由Bayreuth大学的A. Mark和S.Gödrich提供。

Peakforce Secm,由Bruker的独家提供动力peakforce tapp.技术,唯一提供同时多维数据。只有Peakforce Secm允许在纳米级的形态学结构中与生物学,化学和物理性质相关。

专门为SECM专门设计的可靠,易于使用的探头受益

(a)Bruker的独家专门的Peailforce Secm探头提供简单安全的处理,以及对成像和多个清洁周期的极其稳定的性能。(b)探头的SEM图像;(c)10 mm的COMSOL模拟[Ru(NH3)6] 3+型材;(d)在扫描速率为20mV / s的50次连续扫描中选择的第1,25和第50个CV。(e)在-0.1V的2小时安培测量测试与AGQRE,ILLET放大率为70至120分钟。(f)模拟(虚线)和实验(实线)接近曲线。C和e图片由C. Xiang和Y. Chen,Caltech提供。

Bruker的Premounted Peailforce Secm探头提供简单安全的操作,优化的持有者为敏感信号处理提供电稳定的架构。超过10小时的EC测试和多种再利用清洁循环已经证明了极其稳定的探针性能。