PeakForce SECM
基于afm的扫描电化学显微镜
最后-一个完整的SECM解决方案
Bruker独家的PeakForce SECM™模式是世界上第一个基于afm扫描电化学显微镜(SECM)的完整商业解决方案。由于空间分辨率小于100纳米，PeakForce SECM™独特地提供了纳米级横向分辨率的地形、电化学、电气和机械地图的同时捕获。这项技术从根本上重新定义了在纳米级可视化液体中的电气和化学过程。
获得以前无法获得的电化学信息
(A) EC电流皮肤覆盖纳米网格电极(Au-SiO2)的三维形貌;(B) (A)中Au-SiO2表面的地形和EC变化曲线;(C)纳米电极阵列样品的地形和EC变化的线剖面。纳米网格电极样品由拜罗伊特大学C. Stelling和M. Retsch提供。图片由拜罗伊特大学A. Mark和S. Gödrich提供。纳米电极阵列样品由俄勒冈大学M. Nellist和S. Boettcher教授提供。
与传统方法相比，PeakForce SECM在数量级上显著提高了分辨率。这加速了储能系统(如锂离子电池)、腐蚀科学和生物传感器的研究，为对单个纳米粒子、纳米相和纳米孔的新测量打开了大门。
在液体中同时进行电化学，电气和机械制图
在Au衬底上微接触印制ch3 -硫醇自组装单分子层(SAM)的PeakForce SECM图像:(A)形貌变化<1 nm;(B) PeakForce QNM黏附力;(C)提升高度为40 nm时的电化学活性。(B)和(C)定量地显示Au和SAM区域的附着力和电化学电流分别有700 pN和108 pA的差异。图片由拜罗伊特大学A. Mark和S. Gödrich提供。
PeakForce SECM，由布鲁克独家提供动力PeakForce攻技术，唯一地提供同步多维数据。只有PeakForce SECM允许在纳米尺度上将生物、化学和物理性质与形态结构相关联。
得益于为SECM专门设计的可靠、易于使用的探头
(A)布鲁克独家预安装的PeakForce SECM探头提供了简单和安全的处理，以及在数小时的成像和多次清洗周期中极其稳定的性能。(B)探针的SEM图像;(C) 10 mM [Ru(NH3)6]3+剖面的COMSOL模拟;(D)以20 mV/s的扫描速率从50次连续扫描中选择第1、25和50个CVs;(E) 2小时安培测试，在-0.1 V对AgQRE，插入放大从70到120分钟;(F)模拟(虚线)和实验(实线)逼近曲线。C和E图像由C. Xiang和Y. Chen提供。
布鲁克的预先安装的PeakForce SECM探头提供了简单和安全的操作，优化的支架提供了敏感信号处理的电稳定架构。在超过10小时的EC测试和多次重复使用清洗周期中，已经证明了极其稳定的探头性能。
