AFM模式

Peakforce secm

基于AFM的扫描电化学显微镜

最后 - 完整的SECM解决方案

Bruker的独家Peakforce SECM™模式是世界上第一个用于基于AFM的扫描电化学显微镜(SECM)的完整商业解决方案。具有少于100纳米的空间分辨率,PeakForce SECM™唯一地提供了具有纳米级侧分辨率的地形,电化学,电化学和机械图的同时捕获。这项技术从根本上重新定义了液体中电和化学过程的纳米级可视化。

获取以前无法实现的电化学信息

(a)纳米什电极(AU-SIO2)的3D地形被EC电流皮肤覆盖;(b)(a)中Au-Sio2表面上的地形和EC变化的线曲线;(c)纳米电极阵列样本的地形和EC变化的线曲线。纳米什电极样品由C. Stelling和M. Retsch提供,拜罗伊斯大学。图像由A. Mark和S.Gödrich,Bayreuth大学提供。纳米电极阵列样本由M. Nellist和俄勒冈大学S. Boettcher教授提供。

Peakforce Secm通过数量级的命令大大改善了传统方法的解决力。这加速了对储能系统(例如,锂离子电池),腐蚀科学和生物传感器的研究,为单个纳米颗粒,纳米相和纳米孔的新颖测量打开了大门。

在液体中同时进行电化学,电气和机械映射

Au底物上的微接触印刷CH3-硫醇自组装单层(SAM)的Peakforce secm图像:(a)地形变化<1 nm;(b)峰值QNM粘附力;(c)升力高度为40 nm的电化学活性。(b)和(c)在AU和SAM区域之间分别在定量的700 Pn和108 PA差异上显示了粘附力和电化学电流的差异。图像由A. Mark和S.Gödrich,Bayreuth大学提供。

Peakforce Secm,由布鲁克独家提供支持峰值攻击技术,独特地提供同时提供的多维数据。只有Peakforce Secm才能将生物,化学和物理性质与纳米级形态结构相关。

从专门为SECM设计的可靠,易于使用的探针中受益

(A)Bruker的独家前后Peakforce SECM探针提供了轻松且安全的处理,并且在数小时的成像和多个清洁周期内表现出非常稳定的性能。(b)探针的SEM图像;(c)10 mm的comsol模拟[ru(nh3)6] 3+曲线;(d)从50次连续扫描中选择的第一,第25和50个CV,扫描速率为20 mV/s;(e)-0.1 V与AGQRE的2小时安培测试,从70分钟到120分钟。(f)模拟(虚线)和实验(实线)接近曲线。C和E图像由C. Xiang和Y. Chen提供。

Bruker的上peakforce Secm探针提供了简单安全的处理,并且优化的持有人提供了用于敏感信号处理的电稳定架构。已经证明了超过10个小时的EC测试和多次重复使用清洁周期的探针性能非常稳定。