XFlash 6-60
用于纳米分析的大面积SDD
XFlash 6-60探测器
大的活动面积60毫米2芯片与细线探测器手指一起提供了一个大的实心角度。的XFlash®因此，6-60注定用于x射线收率相对较低的应用中，这在纳米分析领域很常见。由于探测器也提供了非常好的能量分辨率126ev在Mn Kα和根据C和F分辨率，它还可以舒适地在低能量范围内使用，这也是该领域的要求。
总之，XFlash®6-60具有以下优点:
- 非常好的能量分辨率(Mn Kα为126 eV, C Kα为51 eV, F Kα为60 eV)
- 其他可用的分辨率是129ev在Mn Kα
- 极高的脉冲负载能力
- 优良的轻元素和低能性能(元素范围Be - Am)
- 没有精密的、产生振动的冷却系统
- 上电后立即可用
- 低运营成本
- 不需维护的操作
- 小尺寸，包括纤细的科技手指
- 低体重
XFlash的建议应用领域®6-60是:
- 用于扫描电镜，微探针，FIB-SEM的EDS系统(可选择焊接波纹管)
- 结合EDS和高分辨率EBSD分析和eFlash FS
- Nano-analysis