XFlash 6-60
用于纳米分析的大面积SDD
XFlash 6-60探测器
大活动面积60mm2芯片连同细线探测器手指提供大立体角。的XFlash®因此，6-60注定用于x射线产率相对较低的应用中，就像在纳米分析领域中常见的那样。由于探测器在Mn Kα和C和F分辨率下也提供了126 eV的很好的能量分辨率，它也可以在低能量范围内舒适地使用，这也是该领域的要求。
总之，XFlash®6-60提供以下优点:
- 非常好的能量分辨率(Mn Kα时为126 eV, C Kα时为51 eV, F Kα时为60 eV)
- 其他可用的分辨率是129 eV在Mn Kα
- 极高的脉冲负载能力
- 优异的轻元素和低能耗性能(元素范围Be - Am)
- 没有精密的、能产生振动的冷却系统
- 上电后立即可用
- 低运营成本
- 不需维护的操作
- 小尺寸，包括细线技术手指
- 低体重
XFlash应用的建议区域®6-60是:
- 扫描电镜，微探针，FIB-SEM的EDS系统(焊接波纹管可选)
- 将EDS和高分辨率EBSD分析与eFlash FS相结合
- Nano-analysis