XFlash 6-60

60毫米^2.大有效面积芯片与细管径技术探测器手指一起提供大固体角。因此，XFlash^®6-60 的性能可用于 十、射线产量相对较低的应用，即纳米分析领域。该探测器还可提供极高的能量分辨率，比如 mnkα126ev因此它也可以在低能端内轻松适用。

总结起来，XFlash^®6-60 具有以下优点：

• 非常好的能量分辨率（mnkα）为 126ev，ckα为 51ev，fkα为 60电动汽车）
• 其他可用分辨率为 mnkα的 129电子伏
• 极高的脉冲负载能力
• 出色的轻元素和低能端检测性能(Be-Am)元素范围）
• 简单，无震动设计的冷却系统
• 打开电源后立即可用
• 低运行成本
• 免维护操作
• 小尺寸，包括细管径技术
• 重量轻

XFlash®6-60建议的应用领域包括：

• 用于 扫描电镜电子探针、纤维扫描电镜的 EDS系统（焊接波纹管可作为选件提供）
• 将 EDS和高分辨率 EBSD分析的 eFlash FS探头相结合
• 纳米分析