céramiquesetrevêtementinorganiques

洛杉矶Spectroscopie IRTFpeut serviràDéterminerl'épaisseurde la couche de type de Films。倒数结构加上petites de l'ordre dumicromètre，les显微镜，irtf donnent d'Eflosentsrésultatset permettent dedéterminerdedéterminerdemanièredemanière可行的l'épaisseurdes couches。

il faut utiliser pour ce faire des tes tes recrets sur le diamant optiquement透明。Cela导管franges insunites par lesInterférences。Eles sont dues - lumièreréfléchie - la fois par l la surface de la couche derevêtementet par le sus sous lerecêtement。

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恩·布雷夫（En Bref），洛杉矶Spectroscopie RamanEst l'un des Outils les les Plus Puissants倒分析仪LES同种异体Du Carbone。c’est Naturellement l'ef of of de choix pour le carbone de型dumantdéposéChimiquementen phase gazeuse。

cela permet dedifférencierles nombreux类型de carbone et de fournir des Informations结构结构Essentielles，p。前任。LE融洽的重要SP2/SP3。de Plus，La Microscopie Raman est en MeSured'AccephérirLesSpecters Raman - Un niveauIntérieurAuMicromètre。

• 典范
• deRevêtement
• étudescomprantes des des des des des du carbone

lesrevêtementsMétalliquessont es ensentiels - de nombreux secteurs industriels en fornnissant de Meil​​leurespropriétésdesurface cour cour cour cour cour polle cour une de une grandevariétédeProdutits。lesrevêtementsmétalliquespeuvent donner une couche couche耐用的résistante - la腐蚀性protégerleMatéririaude base et aident -minimiser l'usimiser l'usure normale normale normale normale des produites produitsmétalliques。LesRevêtementsMétalliquespeuventaméliorerentre autres latoctibilitéélectrique，larésistanceau au au夫妇和lasoudabilité。LeContrôleColicitédela Composition等del'épaisseurdesRevêtementestrique por pour garantir les lespropriétésderevêtementcorrectes et ladurabilité。

Quand unpartôleColiTé严格的desRevêtementsMétalliquesEst requis，l'Analyse par荧光àrayons x（xrf）est la Meil​​leure solutiongénérale。L'Enstrument de Micro-XRFM1 Mistralde bruker peut donnersyultanémentde la Composition et del'épaisseurduRevêtement。En Plus de l'Analyze duRevêtement，leM1 MistralPeutégalement介质la组成Chimique des Alliages deMétaux，des Liquess de Bain de de de Galvanoplastique，des Plastiques et de nombreux autres autresMatériaux。

ÉtantDonnéqueLes Rayons X Peuvent TraverslaMatière，Xrf engénéralpermet dedéterminerdesépaisseursde couche。L'Aide deMicro-XRF，dans ce cas leM4龙卷风，lesrésolutionsspatiales - l'échelledumicromètreperettentderéaliserl'Analyse des couches（épaisseuret Coptions）。L'Analyse des Couches s'appuie Fortement Sur la量化desparamètresatomiques fondamentaux et peut peutTemtemtemantemantaux et peutêC’est la raison pour laquelle il est possible de mesurer avec une précision élevée les systèmes de couche "courants", comme les revêtements ENEPIG, ZnNi ou les couches de soudure où des normes existent déjà, mais également de tester de nouveaux systèmes de couche dans un environnement R&D.

l'Analyse des fines couches out desRevêtementunetâchecurante de laSpectrométrie微XRF。Le FinctionNement非毁灭性de CetteMéthode等人Xàpénétrerdans dansunéchantillonetàobtenir des Inforsations sur sur leMatérielsous sous la suss la surend cetterméthodeMéthodeMéthodeMéthodeMéthodeMéthodeTrayanteatrayante pour l'Analys antary de couches simples simples ou ulluptles ouluplles。

Toute la complexité de l’analyse des échantillons discutée ici est que la couche (aluminium) et le substrat (silicone) sont des éléments légers et requièrent donc une mesure sous vide sans quoi l’air dans la voie du faisceau entre l’échantillon et le détecteur absorberait le rayonnement à faible énergie émis par l’échantillon. De plus, cette application compare l’analyse manuelle et automatique à l’aide d’Auto-Point. Les résultats montrent que l’épaisseur de la couche peut être déterminée précisément parMicro-XRF（（M4龙卷风）ce que确认比较avec desrésultatsde Mesure de sur sur un bord de la la couche de la couche dan le lecretronique - balayage。

大多数加工步骤都会引入残留应力，这些应力可能会影响制造成分的性能。压缩应力可以设计成金属涂层以抵抗裂纹繁殖，而拉伸应力可以被利用以提高半导体的电导率。应变的材料表现出可必威手机客户端通过X射线衍射（XRD）检测到的原子间距的变化，并通过弹性常数与应力有关。