涂层及表面精炼

陶瓷及无机涂料

类金刚石碳(DLC)

FT-IR在陶瓷涂料中的应用

类金刚石层厚度的FT-IR测定

看看如何使用FT-IR显微镜来评估钻上的CVD金刚石涂层。

红外光谱可用于层厚-测定这类薄膜。对于较小的结构千分尺范围,FTIR显微镜提供极好的结果使可靠的层厚测定成为可能。

这是通过光学透明钻石的反射测量来实现的。这将导致所谓interference-induced边缘。这些都是这是由于光线从表面反射而引起的涂布层和从基材下面涂布。

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拉曼光谱在陶瓷涂层中的应用

CVD类金刚石涂层的拉曼均匀性评价

简而言之,拉曼光谱是最强大的工具之一吗用于碳同素异形体分析。自然,它是化学蒸汽沉积类金刚石的首选工具。

它允许微分大量的碳类型提供了基本的结构信息,例如2/ sp3.比率。此外,拉曼显微术能够获得激光的拉曼光谱亚微米范围。

  • 涂层均匀性评价
  • 对涂层工艺的洞察
  • 全面的碳同素异形体研究

涂层和层分析

微x射线荧光在陶瓷涂层中的应用

微x射线荧光涂层厚度

金属涂层为各种各样的产品提供了增强的表面性能,对许多工业部门都是至关重要的必威东盟体育。金属涂层可以提供一个耐用的、耐腐蚀的层来保护基材,并有助于减少金属产品的磨损。金属涂层可以提高电导率,抗扭矩,可焊性等。涂层成分和厚度的质量控制是保证涂层性能和耐久性的关键。

当需要严格控制金属镀层的质量时,x射线荧光(XRF)分析是最好的整体解决方案。的力量M1米斯特拉尔微xrf仪器可以同时提供涂层厚度和涂层成分的测量。除涂层分析外M1米斯特拉尔还可以测量金属合金、镀液、塑料和许多其他材料的化学成分。必威手机客户端

用微xrf绘制层厚变化

由于x射线可以穿透物质,所以XRF一般可以用来测定层的厚度。使用micro-XRF,在这种情况下M4龙卷风,层分析(厚度和组成)是可行的空间分辨率在微米尺度。层析是一种基于原子基本参数的定量分析方法,可通过标准样品进行改进。因此,“普通”层系统,如ENEPIG涂层,ZnNi涂层,或焊料层,这些标准可以随时获得高精度测量,但也可以在研发环境中测试新型层系统。

该样品,在玻璃基板上的两个电极,是光诱导电解的测试装置。它是由具有浓度梯度的双金属单分子层组成

用微xrf测量真空层

对薄层或涂层的分析是工业中常见的工作micro-XRF谱分析。该方法的非破坏性操作和x射线穿透样品并获取表面下材料信息的能力,使该方法对单层或多层分析的目的具有吸引力。

本文讨论的样品分析的特殊挑战是,层(铝)和衬底(硅)都是轻元素,这需要在真空下测量,否则样品和探测器之间的光束路径中的空气会吸收样品发出的低能量辐射。此外,该应用程序使用Auto-Point比较手动和自动分析。结果表明,用该方法可以准确地测定层厚micro-XRFM4龙卷风),并与扫描电子显微镜对层状断裂边缘的直接测量结果进行了对比。

压力

残余应力分析

硅表面多晶钨涂层的研究

大多数加工步骤都会引入残余应力,从而影响制造部件的性能。压应力可以设计成金属涂层来抵抗裂纹扩展,而拉应力可以用来提高半导体的导电性。应变材料的原子间距必威手机客户端变化可以通过x射线衍射(XRD)检测到,并通过弹性常数与应力有关。