eFlash高清

拥有近200万像素(1600 x 1200像素)的本地CCD分辨率和最先进的相机光学，最大限度地减少失真，新的eFlash高清探测器提供高清晰度的Kikuchi图案，显示最精细的细节。eFlash HD是残余应变分析(HR-EBSD)的完美选择。包含eFlash HD高质量模式的数据集也非常适合用第三方软件如crossscourt4进行互相关分析。

典型的应用

• HR-EBSD(残余应变分析)
• 精准识别阶段
• 晶体结构中的伪对称性分析

与它的前辈(eFlash HR)相比，新的eFlash HD探测器具有改进的冷却系统，将CCD的暗电流降低了四倍。因此，生成的菊地图案现在有更好的质量，包括更高的信噪比。

新型eFlash高清探测器采用高效高质量的荧光屏获取高细节的菊池图案。高像素分辨率的CCD芯片和小晶粒尺寸的磷光材料的组合保证了图形的最终像素尺寸为20 μm，使得图形可以看到非常小的移动。

eFlash HD的高精度导向系统，屏幕定位精度优于10 μm。因此，新的eFlash HD是运行模式中心校准的最佳解决方案，使用基于屏幕移动的方法。

eFlash HD可与ARGUS™前散射/后散射电子成像系统配套使用。这进一步增加了探测器的通用性，并为有意义和高效的微观结构表征提供了有价值的额外信息。

新的eFlash HD还可以采用独特的OPTIMUS™TKD探测器头，用于分析电子透明样品，以最佳的样品探测器几何形状。