Eflash HD

新型Eflash HD检测器提供了几乎2百万像素（1600 x 1200像素）的本机CCD分辨率（1600 x 1200像素）和最小化扭曲状态的最小化型扭曲状态，可提供显示最好细节的高清kikuchi模式。EFLASH HD是残余应变分析（HR-EBSD）的理想选择。包含Eflash高清高质量模式的数据集为也适合使用CrossCourt4（例如CrossCourt4）的第三方软件进行互相关分析。

典型应用

• HR-EBSD（残余应变分析）
• 超准确的相识别
• 分析晶体结构中的伪对称性

与其前身（EFLASH HR）相比，新的Eflash HD检测器具有改进的冷却系统，可将CCD的深色电流降低四倍。因此，生成的kikuchi模式现在具有更高的质量，包括更高的信号/噪声比。

新的EFLASH HD检测器使用高效率和高质量的磷光屏幕来获取高详细的Kikuchi模式。高像素分辨率CCD芯片和少量晶粒磷光材料的组合确保了20μm的最终像素大小，从而使图案的可见移动非常小。

EFLASH HD的高精度引导系统允许屏幕定位精度优于10μm。因此，新的Eflash HD是使用基于屏幕运动的方法运行模式中心校准的最佳解决方案。

EFLASH HD可与Argus™前置/反向散射电子成像系统一起使用。这进一步增加了检测器的多功能性，并为有意义有效的微观结构表征提供了宝贵的附加信息。

新的EFLASH HD还可以使用独特的Optimus™TKD检测器头改装，以分析最佳样品检测器几何形状中的电子透明样品。