XFlash 6 - 100

非常特殊的情况需要非常特殊的探测器。的XFlash^®6-100是为这种情况下，有限的信号是可用的。例如，当分析非常敏感的样品或使用Cold-FEG扫描电镜时。大100毫米²活性区域和窄端盖提供最大立体角，并允许在短时间内获得光谱，即使在这些不利条件下。同时还有XFlash^®6-100具有与小型探测器相同的高计数率能力(高达1500 kcps的输入)，使其成为真正独特的EDS分析仪器。

总之，XFlash^®6-100提供以下优点:

• 良好的能量分辨率(Mn Kα为129 eV, C Kα为57 eV, F Kα为67 eV)
• 极高的脉冲负载能力
• 良好的轻元素和低能量性能(元素范围Be - Am)
• 没有精密的、产生振动的冷却系统
• 上电后立即可用
• 低运营成本
• 不需维护的操作
• 小尺寸
• 轻量，包括细线技术手指

XFlash的建议应用领域^®6 - 100:

• SEM、微探针、FIB-SEM的EDS系统(可选择焊接波纹管)
• 低束电流和灵敏样品分析(带冷场发射器的扫描电子显微镜)